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1. (WO2005115663) THREE-DIMENSIONAL SHAPE MODEL PRODUCING METHOD AND APPARATUS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2005/115663    International Application No.:    PCT/JP2005/009552
Publication Date: 08.12.2005 International Filing Date: 25.05.2005
IPC:
B22F 3/105 (2006.01), B22F 3/24 (2006.01), B29C 67/00 (2006.01)
Applicants: MATSUSHITA ELECTRIC WORKS, LTD. [JP/JP]; 1048, Oaza-Kadoma, Kadoma-shi, Osaka 5718686 (JP) (For All Designated States Except US).
MATSUURA MACHINERY CORPORATION [JP/JP]; 1, Aza-Numa, Urushihara-cho 1, Fukui-shi, Fukui 9108530 (JP) (For All Designated States Except US).
HIGASHI, Yoshikazu [JP/JP]; (JP) (For US Only).
TOGEYAMA, Hirohiko [JP/JP]; (JP) (For US Only).
ABE, Satoshi [JP/JP]; (JP) (For US Only).
FUWA, Isao [JP/JP]; (JP) (For US Only).
TOMITA, Seiichi [JP/JP]; (JP) (For US Only).
MAEDA, Toshio [JP/JP]; (JP) (For US Only).
TAKINAMI, Norio [JP/JP]; (JP) (For US Only)
Inventors: HIGASHI, Yoshikazu; (JP).
TOGEYAMA, Hirohiko; (JP).
ABE, Satoshi; (JP).
FUWA, Isao; (JP).
TOMITA, Seiichi; (JP).
MAEDA, Toshio; (JP).
TAKINAMI, Norio; (JP)
Agent: KAWAMIYA, Osamu; AOYAMA & PARTNERS IMP Building 3-7, Shiromi 1-chome, Chuo-ku Osaka-shi, Osaka 5400001 (JP)
Priority Data:
2004-156941 26.05.2004 JP
Title (EN) THREE-DIMENSIONAL SHAPE MODEL PRODUCING METHOD AND APPARATUS
(FR) PROCEDE ET APPAREIL D’ELABORATION DE MODELES DE FORME TRIDIMENSIONNELLE
(JA) 三次元形状造形物の製造方法及び製造装置
Abstract: front page image
(EN)Before modeling, the initial position of at least one interlock reference mark provided near a model is measured by first position measuring means, and the initial position of the interlock reference mark is measured by second position measuring means disposed to machining means. During modeling, the position of the interlock reference mark is measured by the first and second position measuring means. According to the initial position of the interlock reference mark before modeling and the positions of the interlock reference mark measured by the first and second position measuring means during modeling, the position to which a light beam is applied and the position of the machining by the machining means are corrected.
(FR)Avant la modélisation, la position initiale d’au moins un repère de référence de verrouillage à proximité d’un modèle est mesurée par un premier moyen de mesure de position, et la position initiale du repère de référence de verrouillage est mesurée par un deuxième moyen de mesure de position disposé dans un moyen d’usinage. Durant la modélisation, la position du repère de référence de verrouillage est mesurée par les premier et deuxième moyens de mesure de position. En fonction de la position initiale du repère de référence de verrouillage avant la modélisation et des positions du repère de référence de verrouillage mesurées par les premier et deuxième moyens de mesure de position durant la modélisation, la position à laquelle un faisceau lumineux est appliquée et la position d’usinage par le moyen d’usinage sont corrigées.
(JA) 造形前に、第1の位置計測手段により造形物の近傍に設けられた少なくとも1つの連動基準マークの初期位置を計測するとともに、加工手段に設けられた第2の位置計測手段により上記連動基準マークの初期位置を計測し、造形途中に上記第1の位置計測手段による上記連動基準マークの位置計測及び上記第2の位置計測手段による上記連動基準マークの位置計測を行い、造形前の上記連動基準マークの初期位置と造形途中に上記第1及び第2の位置計測手段により計測された上記連動基準マークの位置とに基づいて光ビームの照射位置及び加工手段による加工位置を補正するようにした。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)