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1. (WO2005115262) METHOD AND MEASURING DEVICE FOR DETERMINING THE TRANSIENT IMPEDANCE BETWEEN TWO PARTIAL ELECTRODES OF A DIVIDED NEUTRAL ELECTRODE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2005/115262    International Application No.:    PCT/EP2005/005512
Publication Date: 08.12.2005 International Filing Date: 20.05.2005
IPC:
A61B 18/12 (2006.01), A61B 18/16 (2006.01)
Applicants: ERBE ELEKTROMEDIZIN GMBH [DE/DE]; Waldhörnlestrasse 17, 72072 Tübingen (DE) (For All Designated States Except US).
EISELE, Florian [DE/DE]; (DE) (For US Only)
Inventors: EISELE, Florian; (DE)
Agent: BOHNENBERGER, Johannes; Meissner, Bolte & Partner, Postfach 86 06 24, 81633 München (DE)
Priority Data:
10 2004 025 613.6 25.05.2004 DE
Title (DE) VERFAHREN UND MESSVORRICHTUNG ZUR BESTIMMUNG DER ÜBERGANGSIMPENDANZ ZWISCHEN ZWEI TEILEKTRODEN EINER GETELTEN NEUTRALELEKTRODE
(EN) METHOD AND MEASURING DEVICE FOR DETERMINING THE TRANSIENT IMPEDANCE BETWEEN TWO PARTIAL ELECTRODES OF A DIVIDED NEUTRAL ELECTRODE
(FR) PROCEDE ET DISPOSITIF DE MESURE PERMETTANT DE DETERMINER L'IMPEDANCE TRANSITOIRE ENTRE DEUX ELECTRODES PARTIELLES D'UNE ELECTRODE NEUTRE DIVISEE
Abstract: front page image
(DE)Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Messvorrichtung (2) zur Be­ stimmung der Übergangsimpedanz zwischen zwei Teilelektroden (4, 6) einer geteilten Neutralelektrode (8) in der Hochfrequenz-Chirurgie. Durch die Erfindung ist der rein kapazitive Anteil der Übergangsimpedanz bestimmbar. Hierzu wird eine Resonanzfre­quenz-Verschiebung gemessen, die auftritt, wenn ein Basisschwingkreis (24) durch paral­leles Zuschalten der beiden Teilelektroden (4, 6) zu einem erweiterten Schwingkreis (25) erweitert wird. Insbesondere wird zur Bestimmung der Basisresonanzfreque:nz des Basis­schwingkreises (24) bzw. der Probenresonanzfrequenz des erweiterten Schwingkreises (25) die Phasenverschiebung zwischen Strom und Spannung gemessen und die Frequenz angepasst, bis Strom und Spannung in Phase sind.
(EN)The invention relates to a method and a measuring device (2), for determination of the transient impedance between two partial electrodes (4, 6) of a divided neutral electrode (8) in high-frequency surgery. The purely capacitive portion of the transient impedance may be determined by means of the above. A resonant frequency shift is thus measured, which arises when a base tuned circuit (24) is extended to give an extended tuned circuit (25) by parallel connection of both partial electrodes (4, 6). In particular, for determination of the base resonance frequency of the base tuned circuit (24), or the sample resonant frequency of the extended tuned circuit (25), the phase shift between current and frequency is measured and the frequency adjusted until current and voltage are in phase.
(FR)La présente invention concerne un procédé et un dispositif de mesure (2) permettant de déterminer l'impédance transitoire entre deux électrodes partielles (4, 6) d'une électrode neutre divisée (8) en chirurgie haute fréquence. L'objectif de cette invention est de permettre de déterminer la composante purement capacitive de l'impédance transitoire. A cet effet, on mesure un décalage de fréquences de résonance apparaissant lorsqu'un circuit oscillant de base (24) est étendu par le montage en parallèle des deux électrodes partielles (4, 6) pour former un circuit oscillant étendu (25). En particulier, pour déterminer la fréquence de résonance de base du circuit oscillant de base (24) ou la fréquence de résonance d'échantillon du circuit oscillant étendu (25), on mesure le décalage de phases entre le courant et la tension et on adapte la fréquence jusqu'à ce que le courant et la tension soient en phase.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: German (DE)
Filing Language: German (DE)