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1. (WO2005109020) SYSTEM AND METHOD FOR CHARACTERIZING A SIGNAL PATH USING A SUB-CHIP SAMPLER
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2005/109020    International Application No.:    PCT/US2005/016014
Publication Date: 17.11.2005 International Filing Date: 06.05.2005
IPC:
G01R 31/28 (2006.01)
Applicants: UNIVERSITY OF UTAH RESEARCH FOUNDATION [US/US]; 615 Arapeen Drive, Suite 310, Salt Lake City, UT 84108 (US) (For All Designated States Except US).
JANI, Nilay [IN/US]; (US) (For US Only).
FURSE, Cynthia, M. [US/US]; (US) (For US Only).
NIGAM, Anurag [IN/IN]; (IN) (For US Only)
Inventors: JANI, Nilay; (US).
FURSE, Cynthia, M.; (US).
NIGAM, Anurag; (IN)
Agent: NORTH, Vaughn, W.; Thorpe North & Western LLP, PO Box 1219, Sandy, UT 84091-1219 (US)
Priority Data:
60/569,448 06.05.2004 US
11/124,458 05.05.2005 US
Title (EN) SYSTEM AND METHOD FOR CHARACTERIZING A SIGNAL PATH USING A SUB-CHIP SAMPLER
(FR) SYSTEME ET PROCEDE DE CARACTERISATION D'UN PARCOURS DE SIGNAL AU MOYEN D'UN ECHANTILLONNEUR DE SOUS-BRIBE
Abstract: front page image
(EN)A system and method are disclosed for characterizing a signal path. The system includes a system clock configured to produce a system clock signal at a sample frequency. A frequency divider is configured to divide the sample frequency of the system clock signal by a factor of N to produce a chip clock signal at a chip frequency. The system further includes a pseudo-noise (PN) sequence generator configured to produce a PN sequence at the chip frequency and couple the PN sequence to the signal path while the signal path is carrying an operational signal. A sub-chip sampler is configured to correlate the PN sequence and a reflected PN sequence which has been reflected within the signal path to form a correlated signal and to sample the correlated signal at the sample frequency of the system clock signal.
(FR)L'invention concerne un système et un procédé permettant de caractériser un parcours de signal. Ce système comprend une horloge de système conçue pour produire un signal d'horloge de système à une fréquence d'échantillon. Un diviseur de fréquence est conçu pour diviser la fréquence d'échantillon du signal d'horloge de système par un facteur N pour obtenir un signal d'horloge de bribe à une certaine fréquence de bribe. Ce système comprend également un générateur de séquence de pseudo-bruit (PN) conçu pour produire une séquence de pseudo-bruit à la fréquence de bribe et coupler cette séquence de pseudo-bruit au parcours de signal alors que le parcours de signal comporte un signal opérationnel. Un échantillonneur de sous-bribe est conçu pour corréler la séquence de pseudo-bruit et une séquence de pseudo-bruit réfléchie ayant été réfléchie dans le parcours de signal pour former un signal corrélé et pour échantillonner le signal corrélé à la fréquence d'échantillon du signal d'horloge de système.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)