(EN) In a cavity ringdown spectrometer, a laser beam (12) is rapidly swept in frequency. When the frequency matches a resonant frequency of an optical cavity (20) formed between two highly reflective mirrors (16.1, 16.2) it is coupled into the cavity (20). Cavity-ringdown light is generated each time the frequency reaches a value that is resonant in the cavity. As the frequency reaches the value, the ringdown light builds up. As the frequency moves away from the value the ringdown light decays. A portion of the ringdown light is detected (38) and the rate of light decay is measured from the ringdown light signal. The variation of the rate of decay is attributable to a property of a sample that is in the cavity (20) between the mirrors (16.1; 16.2). A method of processing the ringdown light signal is also described. The arrangement allows rapid determination of the rates of decay of ringdown light at many frequencies for a single sample.
(FR) La présente invention a trait à un spectromètre à temps de déclin de cavité, dans lequel on effectue un balayage rapide d'un faisceau laser (12) en fréquence. Lorsque la fréquence correspond à une fréquence de résonance d'une cavité optique (20) formée entre deux miroirs hautement réfléchissants (16.1, 16.2), elle est couplée dans la cavité (20) Une lumière à temps de déclin de cavité est générée chaque fois que la fréquence atteint une valeur qui est résonante dans la cavité. Au fur et à mesure que la fréquence atteint la valeur, la lumière à temps de déclin monte en puissance. Au fur et à mesure que la fréquence s'éloigne de la valeur, la lumière à temps de déclin se détériore. Une portion de la lumière temps de déclin est détectée (38) et le taux de détérioration est mesurée à partir du signal de la lumière à temps de déclin. La variation du taux de détérioration de la lumière à temps de déclin est attribuable à une propriété d'échantillon se trouvant dans la cavité (20) entre les miroirs (16.1, 16.2). L'invention a également trait à un procédé de traitement de signal de la lumière à temps de déclin. L'agencement permet la détermination rapide des taux de détérioration de la lumière à temps de déclin à plusieurs fréquences pour un unique échantillon.