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1. (WO2005104307) LASER ATOM PROBES
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2005/104307    International Application No.:    PCT/US2004/027062
Publication Date: 03.11.2005 International Filing Date: 19.08.2004
IPC:
H01S 1/00 (2006.01)
Applicants: IMAGO SCIENTIFIC INSTRUMENTS CORPORATION [US/US]; 6300 Enterprise Lane, Madison, WI 53719 (US) (For All Designated States Except US).
BUNTON, Joseph, H. [US/US]; (US) (For US Only).
KELLY, Thomas, F. [US/US]; (US) (For US Only).
GRIBB, Tye, T. [US/US]; (US) (For US Only)
Inventors: BUNTON, Joseph, H.; (US).
KELLY, Thomas, F.; (US).
GRIBB, Tye, T.; (US)
Agent: FIESCHKO, Craig, A.; DeWitt Ross & Stevens S.C., 8000 Excelsior Drive, Madison, WI 53717-1914 (US)
Priority Data:
60/555,772 24.03.2004 US
60/576,556 03.06.2004 US
Title (EN) LASER ATOM PROBES
(FR) SONDES ATOMIQUES A LASER
Abstract: front page image
(EN)A laser atom probe (100) situates a counter electrode between a specimen mount and a detector (106), and provides a laser (116) having its beam (122) aligned to illuminate the specimen (104) through the aperture (110) of the counter electrode (108). The detector, specimen mount (102), and then be pulsed to bring the specimen to ionization. The timing of the laser pulses may be used to determine ion departure and arrival times allowing determination of the mass-to-charge ratios of the ions, thus their identities. Automated alignment methods are described wherein the laser is automatically directed to areas of interest.
(FR)Une sonde atomique à laser situe une contre-électrode entre un support d'échantillon et un détecteur, et fournit un laser ayant son faisceau aligné de manière à éclairer l'échantillon par l'ouverture de la contre-électrode. Le détecteur, le support d'échantillon et/ou la contre-électrode peuvent être chargés à une tension de survoltage donnée de manière à charger l'échantillon à un niveau porche de celui requis pour qu'il émette des ions en direction du détecteur, et le laser peut alors être pulsé pour amener l'échantillon à ionisation. La synchronisation des impulsions du laser peut être utilisée pour déterminer les instants de départ des ions, et les instants d'arrivée et les charges des ions peuvent être déterminés au niveau du détecteur, ces paramètre permettant une détermination des rapports masse-charge des ions (et donc des identités de leurs atomes constituants). Du fait que le laser est situé à distance de l'échantillon, des difficultés peuvent être rencontrées pour conserver le faisceau laser aligné sur des empalements précis de l'échantillon, et l'invention concerne des procédés d'alignement automatique selon lesquels le laser est dirigé automatiquement (ou semi-automatiquement) sur des zones d'intérêt.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)