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1. (WO2005068981) MICRO-PLASMA SENSOR SYSTEM
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2005/068981    International Application No.:    PCT/US2004/042579
Publication Date: 28.07.2005 International Filing Date: 08.12.2004
IPC:
G01N 21/67 (2006.01), G01N 21/69 (2006.01)
Applicants: HONEYWELL INTERNATIONAL INC. [US/US]; 101 Columbia Road, P.O. Box 2245, Morristown, NJ 07960 (US) (For All Designated States Except US).
BONNE, Ulrich [US/US]; (US) (For US Only).
COLE, Barrett, E. [US/US]; (US) (For US Only).
RHODES, Michael, L. [US/US]; (US) (For US Only)
Inventors: BONNE, Ulrich; (US).
COLE, Barrett, E.; (US).
RHODES, Michael, L.; (US)
Agent: HOIRIIS, David; Honeywell International inc., 101 Columbia Road, P.O. Box 2245, Morristown, NJ 07960 (US)
Priority Data:
10/749,863 31.12.2003 US
10/915,577 10.08.2004 US
Title (EN) MICRO-PLASMA SENSOR SYSTEM
(FR) SYSTEME DE CAPTEUR A MICRO-PLASMA
Abstract: front page image
(EN)A micro plasma sensor system having a glow discharge gap. A fluid (17) to be sensed is brought into the vicinity of the discharge (18) at the gap. Emission light from the discharge is coupled to an optical spectrum analyzer (22, 23, 26, 47) for determining properties of the fluid. Window cleanliness and electrode electrical isolation may be maintened by the discharge. The optical analyzer may have individual bandpass filters (22) for two or more optical channels to optical detectors, a Fabry-Perot filter (26) in front of a set of optical detectors (41), or a grating or prism (48) which disperses emission light at various angles according to wavelength to an array of light detectors (49). The optical detectors (23, 41, 49) may output electrical signals to be processed.
(FR)L'invention concerne un système de capteur à micro-plasma comportant un espace de décharge luminescente. Un fluide à analyser peut être introduit dans le voisinage de la décharge au niveau de l'intervalle. L'émission lumineuse produite par la décharge peut être couplée à un analyseur de spectre optique qui permet de déterminer les propriétés du fluide. Ce couplage peut comprendre une fenêtre et des électrodes de mesure de matières en particules sises à proximité de l'espace de décharge. La décharge permet d'entretenir la propreté de la fenêtre et l'isolation électrique des électrodes. Cet analyseur optique peut comprendre des filtres passe-bande individuels pour au moins deux voies optiques reliées à des détecteurs optiques, ou un réseau ou un prisme qui disperse la lumière émise à différents angles selon la longueur d'onde d'un réseau de détecteurs optiques. Ces détecteurs optiques peuvent émettre des signaux électriques qui sont ensuite traités.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)