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1. (WO2005067789) METHOD FOR SEPARATING MULTICHANNEL SIGNALS PRODUCED BY AC AND DC SOURCES FROM ONE ANOTHER
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2005/067789    International Application No.:    PCT/FI2005/000038
Publication Date: 28.07.2005 International Filing Date: 19.01.2005
Chapter 2 Demand Filed:    17.11.2005    
IPC:
A61B 5/04 (2006.01)
Applicants: ELEKTA AB (publ) [SE/SE]; P.O. Box 7593, SE-103 93 Stockholm (SE) (For All Designated States Except US).
TAULU, Samu [FI/FI]; (FI) (For US Only).
KAJOLA, Matti [FI/FI]; (FI) (For US Only).
SIMOLA, Juha [FI/FI]; (FI) (For US Only)
Inventors: TAULU, Samu; (FI).
KAJOLA, Matti; (FI).
SIMOLA, Juha; (FI)
Agent: PAPULA OY; P.O. BOX 981, (Fredrikinkatu 61), FI-00101 Helsinki (FI)
Priority Data:
20040070 19.01.2004 FI
Title (EN) METHOD FOR SEPARATING MULTICHANNEL SIGNALS PRODUCED BY AC AND DC SOURCES FROM ONE ANOTHER
(FR) PROCEDE DE SEPARATION DE SIGNAUX MULTICANAUX LES UNS DES AUTRES PRODUITS PAR DES SOURCES CA ET CC
Abstract: front page image
(EN)The present invention relates to a novel manner of measuring DC fields using a multi-channel MEG or MKG measuring instrument; and on the other hand, to a manner of eliminating from the measurement result the interference signals caused by the DC currents. The invention combines the monitoring system of a testee’s movement and the method for motion correction of the measured signals so that the signals produced by the DC currents of a moving testee are visible in the final measurement result as a static signal component in a conventional MEG or MKG measurement. In that case, in the measurement, it is not necessary to beforehand prepare oneself for measuring the DC fields.
(FR)La présente invention concerne une nouvelle façon de mesurer les champs CC à l'aide d'un instrument de mesure MEG ou MKG multicanaux, et d'autre part une façon d'éliminer du résultat de mesure les signaux d'interférence provoqués par les courants CC. L'invention combine le système de contrôle d'un mouvement d'une personne analysée et le procédé de correction de mouvement des signaux mesurés de manière que les signaux produits par les courants CC d'une personne analysée en mouvement sont visibles dans le résultat de mesure final sous la forme d'une composante de signal statique dans une mesure MEG ou MKG classique. Dans ce cas, dans la mesure, il n'est pas nécessaire de se préparer au préalable pour mesurer les champs CC.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: Finnish (FI)