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1. (WO2005061989) OPTICAL IMAGING SYSTEM
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2005/061989    International Application No.:    PCT/DE2004/002816
Publication Date: 07.07.2005 International Filing Date: 22.12.2004
IPC:
G01B 11/24 (2006.01)
Applicants: ROBERT BOSCH GMBH [DE/DE]; Postfach 30 02 20, 70442 Stuttgart (DE) (For All Designated States Except US).
THOMINET, Vincent [CH/CH]; (CH) (For US Only).
KALLMANN, Ulrich [DE/DE]; (DE) (For US Only)
Inventors: THOMINET, Vincent; (CH).
KALLMANN, Ulrich; (DE)
Priority Data:
103 61 569.5 23.12.2003 DE
Title (DE) OPTISCHES ABBILDUNGSSYSTEM
(EN) OPTICAL IMAGING SYSTEM
(FR) SYSTEME D'IMAGERIE OPTIQUE
Abstract: front page image
(DE)Die Erfindung bezieht sich auf ein optisches Abbildungssystem mit einer Anordnung (1) von optischen Komponenten zum Erzeugen einer Abbildung einer zumindest abschnittsweise radialsymmetrischen Licht abstrahlenden Oberfläche (20.1) eines Bauteils (20) für eine optische Oberflächenmessung desselben, wobei die Flächennormale des radialsymmetrischen Bereichs in Messlage des Bauteils unter einem Winkel von höchstens 90° gegenüber der Bauteilachse geneigt ist. Radialsymmetrische Außen-Oberflächenbereiche mit schräg zur Symmetrieachse gerichteten Flächennormalen können der Prüfung von Oberflächeneigenschaften auf schnelle und einfache Weise dadurch zugänglich gemacht werden, dass die Anordnung (1) zum Vermessen von Außen-Oberflächen (20.1) ausgebildet ist und einen dem Bauteil (20) zuordenbaren Spiegel (2) aufweist, der im Messzu-stand den von dem zu vermessenden radialsymmetrischen Bereich der Oberfläche abgestrahlten Strahlanteil erfasst und weiteren Abbildungskomponenten der Anordnung (1) zur Aufbereitung der Abbildung zuführt.
(EN)The invention relates to an optical imaging system, with an arrangement (1) of optical components, for the generation of an image of an at least partly radially-symmetrical light-emitting surface (20.1) of a component (20), for an optical surface measurement thereof, whereby the normal to the plane of the radially-symmetrical region, in the measuring position of the component, is inclined at an angle of at most 90° relative to the component axis. According to the invention, radially-symmetrical outer surface regions, with a normal to the plane aligned at an angle to the axis of symmetry, can be rapidly and simply subjected to the checking of surface properties, whereby the arrangement (1) is embodied for measuring outer surfaces (20.1) and comprises a mirror (2) provided on the component (20), which records the radiation component, emitted by the radially-symmetrical region of the surface for measurement, in the measuring condition and further imaging components of the arrangement (1) are introduced to provide the image.
(FR)L'invention concerne un système d'imagerie optique pourvu d'un ensemble (1) de composants optiques destinés à produire une image d'une surface (20.1) d'un composant (20), laquelle surface émet une lumière à symétrie radiale au moins partielle, pour une mesure optique de surfaces dudit composant, la normale à la surface de la zone à symétrie radiale, en position de mesure du composant, étant inclinée à un angle d'au maximum 90° par rapport à l'axe dudit composant. L'objectif de cette invention est de permettre la vérification simple et rapide de propriétés de surfaces sur des zones de surfaces extérieures à symétrie radiale, présentant une normale à la surface inclinée par rapport à l'axe de symétrie. A cet effet, l'ensemble (1) est conçu pour mesurer des surfaces extérieures (20.1) et présente un miroir (2) pouvant être associé au composant (20) et qui, en position de mesure, capte la composante de rayonnement émise par la zone à mesurer à symétrie radiale de la surface et applique cette composante à d'autres composants d'imagerie dudit ensemble (1) pour la production de l'image.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: German (DE)
Filing Language: German (DE)