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1. (WO2005033767) CONFOCAL LASER SCANNING MICROSCOPE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2005/033767    International Application No.:    PCT/EP2004/010344
Publication Date: 14.04.2005 International Filing Date: 15.09.2004
IPC:
G02B 21/00 (2006.01)
Applicants: CARL ZEISS JENA GMBH [DE/DE]; Carl-Zeiss-Promenade 10, 07745 Jena (DE) (For All Designated States Except US).
GRÄFE, Dieter [DE/DE]; (DE) (For US Only).
KÜHNER, Martin [DE/DE]; (DE) (For US Only).
EISMANN, Frank [DE/DE]; (DE) (For US Only)
Inventors: GRÄFE, Dieter; (DE).
KÜHNER, Martin; (DE).
EISMANN, Frank; (DE)
Agent: BREIT, Ulrich; Geyer, Fehners & Partner, Perhamerstrasse 31, 80687 München (DE)
Priority Data:
103 44 060.7 23.09.2003 DE
Title (DE) KONFOKALES LASER-SCANNING-MIKROSKOP
(EN) CONFOCAL LASER SCANNING MICROSCOPE
(FR) MICROSCOPE CONFOCAL A BALAYAGE LASER
Abstract: front page image
(DE)Es wird beschrieben ein konfokales Laser-Scanning-Mikroskop mit einem Anregungsstrahlengang, der Anregungsstrahlung in mehreren in einer Objektebene (11) gelegenen Spots (30) bündelt, und einem Detektionsstrahlengang, der die Spots (30) konfokal mittels Pinholeblenden (14.2) auf einen Mehrkanal-Detektor (15.2) abbildet, sowie mit einer Scaneinrichtung (4, 5, 37), die eine zweidimensionale Relativbewegung zwischen einem in der Objektebenen (11) gelegenen Objekt und den Spots (30) bewirkt, wobei die Scaneinrichtung (4, 5, 37) bei der Relativbewegung die Spots (30) entlang einer ersten Richtung (32) verschiebt und dadurch mit den. Spots (30) einen Streifen des Objekts (34) abtastet und dann die Spots (30) entlang einer zweiten Richtung (33) verschiebt, um danach durch erneute Verschiebung entlang der ersten Richtung (32) einen benachbarten Streifen abzutasten.
(EN)The invention relates to a confocal laser scanning microscope comprising a excitation beam path, which bundles excitation radiation into a number of spots (30) located in an object plane (11), and comprising a detection radiation path, which confocally projects the spots (30) onto a multichannel detector (15.2) by means of pinhole diaphragms (14.2). The inventive microscope also comprises a scanning device (4, 5, 37), which executes a two-dimensional relative motion between an object located in the object planes (11) and the spots (30). During a relative motion, said scanning device (4, 5, 37) displaces the spots (30) along a first direction (32) and, as a result, scans a strip of the object (34) by using the spots (30), after which it displaces the spots (30) along a second direction (33) in order to subsequently scan an adjacent strip by a displacement along the first direction (32) again.
(FR)L'invention concerne un microscope confocal à balayage laser doté d'une trajectoire de faisceau d'excitation, qui focalise le faisceau d'excitation en plusieurs points (30) situés sur un même plan objet (11), d'une trajectoire de faisceau de détection, qui reproduit les points (30) de manière confocale au moyen d'écrans à microperforations (14.2) sur un détecteur (15.2) à plusieurs canaux, ainsi que d'un dispositif de balayage (4, 5, 37), qui effectue un mouvement relatif en deux dimensions entre un objet situé dans le plan objet (11) et les points (30). L'invention est caractérisée en ce que le dispositif de balayage (4, 5, 37), lors de son mouvement relatif, déplace les points (30) dans une première direction (32) et balaie ainsi avec les points (30) une traînée de l'objet (34), puis il déplace les points (30) dans une deuxième direction (33), pour balayer ensuite une traînée voisine par déplacement dans la première direction (32).
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: German (DE)
Filing Language: German (DE)