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1. (WO2005015175) A METHOD OF COMPENSATING FOR A MEASURING ERROR AND AN ELECTRONIC ARRANGEMENT TO THIS END
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2005/015175    International Application No.:    PCT/SE2004/001179
Publication Date: 17.02.2005 International Filing Date: 10.08.2004
IPC:
G01N 21/27 (2006.01), G01N 21/35 (2006.01), G01N 33/00 (2006.01)
Applicants: SENSEAIR AB [SE/SE]; Box 96, S-820 60 Delsbo (SE) (For All Designated States Except US).
MARTIN, Hans, Göran, Evald [SE/SE]; (SE) (For US Only)
Inventors: MARTIN, Hans, Göran, Evald; (SE)
Agent: LINDBLOM, Erik, J.; Groth & Co. KB, Box 6107, S-102 32 Stockholm (SE)
Priority Data:
0302198-7 11.08.2003 SE
0401883-4 19.07.2004 SE
Title (EN) A METHOD OF COMPENSATING FOR A MEASURING ERROR AND AN ELECTRONIC ARRANGEMENT TO THIS END
(FR) PROCEDE DESTINE A COMPENSER UNE ERREUR DE MESURE ET DISPOSITIF ELECTRONIQUE UTILISE A CETTE FIN
Abstract: front page image
(EN)The present invention relates to a method and to an electronic arrangement (6) for causing a temperature depending error compensation to measured values, said compensation is related, among other things, to a 'drift' error source, in respect of measuring processes which utilise a sensor (1). Electronic circuits (6) are adapted to establish the presence of one or more gases and/or gas mixtures and/or to calculate the concentration of such a gas or gas mixtures. A highest measurement value (Mmax) or a lowest measurement value (Mmin) occurring and established during a chosen measuring cycle (T1) shall be stored in a memory (69´). It is particularly proposed; that a lowest analogue value or a highest digitalised measurement value occurring and evaluated during a chosen time period (T1) shall be stored in said memory (69´); that the occurring and evaluated measurement value (Mmax; Mmin) at the end of a chosen measuring cycle or time period (T1) shall be compared with a stored analogue or through an A/D-converter digitalised control value (65´); and that a discrepancy between the evaluated measured lowest or highest values and said stored control value is used as the basis for related and/or corresponding compensation (K1) of the measurement values occurring in a following time period (T2).
(FR)La présente invention concerne un procédé et un dispositif électronique (6) destinés à réaliser une compensation d'erreur dépendant de la température pour des valeurs mesures, cette compensation étant associée, entre autres, à une source d'erreur de 'dérive', dans le cadre d'opérations de mesure faisant appel à un détecteur (1). Des circuits électroniques (6) sont conçus pour établir la présence d'un ou plusieurs gaz et/ou mélanges gazeux et/ou pour calculer la concentration de ces gaz ou de ces mélanges gazeux. Une valeur de mesure maximale (Mmax) ou une valeur de mesure minimale (Mmin) produite et établie pendant un cycle de mesure choisi (T1) peut être stockée dans une mémoire (69'). Plus particulièrement, on propose qu'une valeur analogique minimale ou une valeur de mesure numérisée maximale produite et évaluée pendant une période choisie (T1) puisse être stockée dans cette mémoire (69'), que la valeur de mesure produite et évaluée (Mmax, Mmin) à la fin d'un cycle de mesure choisi ou d'une période choisie (T1) puisse être comparée à une valeur de contrôle analogique ou numérisée par convertisseur analogique-numérique stockée (65'), et qu'une divergence entre les valeurs minimales ou maximales mesurées évaluées et cette valeur de contrôle stockée soit utilisée comme base pour une compensation associée et/ou correspondante (K1) des valeurs de mesure produites dans une période suivante (T2).
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)