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1. (WO2005014789) TANDEM REPEAT DETERMINATION BY CONCURRENT ANALYSIS OF MULTIPLE TANDEM DUPLEX CONFIGURATIONS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2005/014789    International Application No.:    PCT/US2004/025330
Publication Date: 17.02.2005 International Filing Date: 06.08.2004
IPC:
C12Q 1/68 (2006.01)
Applicants: BIOARRAY SOLUTIONS, LTD. [US/US]; 35 Technology Drive, Warren, NJ 07059 (US)
Inventors: SEUL, Michael; (US)
Priority Data:
60/492,859 06.08.2003 US
Title (EN) TANDEM REPEAT DETERMINATION BY CONCURRENT ANALYSIS OF MULTIPLE TANDEM DUPLEX CONFIGURATIONS
(FR) DETERMINATION DES REPETITIONS EN TANDEM PAR ANALYSE CONCURRENTE DES MULTIPLES CONFIGURATIONS DUPLEX EN TANDEM
Abstract: front page image
(EN)Disclosed is a method of analyzing tandem repeats using one or more probes, each such probe may lack an anchoring sequence but contains one or more tandem repeat sequences complementary to the target tandem repeat sequences. In one embodiment, each probe is attached, via its 5' end, to an encoded microparticle ('bead'), wherein the code - implemented by way of a color scheme - identifies the sequence and length of the probe attached thereto. Also disclosed are methods relating to the analysis of partial duplex configurations involving only partial overlap between probe and target repeats and thus 'overhangs' of probe repeats on the 3' and/or 5' ends of the target repeats.
(FR)Cette invention se rapporte à un procédé servant à analyser les répétitions en tandem en utilisant une ou plusieurs sondes, qui peuvent chacune être exemptes d'une séquence d'ancrage tout en contenant une ou plusieurs séquences de répétitions en tandem complémentaires des séquences de répétitions en tandem cibles. Dans un mode de réalisation, chaque sonde est fixée, par son extrémité 5' à une microparticule codée (perle) dont le code, mis en oeuvre par un schéma de couleur, identifie la séquence et la longueur de la sonde qui lui est fixée. Cette invention concerne également des procédés relatifs à l'analyse des configurations duplex partielles impliquant un chevauchement seulement partiel entre la sonde et des répétitions cibles et par conséquent une fixation avec chevauchement des répétitions des sondes sur les extrémités 3' et/ou 5' des répétitions cibles.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)