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1. (WO2005013037) METHOD AND APPARATUS FOR SHIFTING AT-SPEED SCAN PATTERNS IN A SCAN-BASED INTEGRATED CIRCUIT
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2005/013037    International Application No.:    PCT/US2004/022298
Publication Date: 10.02.2005 International Filing Date: 30.07.2004
Chapter 2 Demand Filed:    10.02.2005    
IPC:
G01R 31/28 (2006.01), H04J 3/00 (2006.01)
Applicants: SYNTEST TECHNOLOGIES, INC. [US/US]; 505 S. Pastoria Avenue, Suite 101, Sunnyvale, CA 94086 (US) (For All Designated States Except US)
Inventors: WANG, Laung-Terng (L.-T.); (US).
ABDEL-HAFEZ, Khader, S.; (US).
WEN, Xiaoqing; (US).
SHEU, Boryau, (Jack); (US).
HSU, Fei-Sheng; (TW).
KIFLI, Augusli; (TW).
LIN, Shyh-Horng; (TW).
WU, Shianling; (US).
WANG, Shun-Miin (Sam); (US).
CHANG, Ming-Tung; (TW)
Agent: ZEGEER, Jim; 801 N. Pitt Street #108, Alexandria, VA 22314 (US)
Priority Data:
60/491,551 01.08.2003 US
10/901,298 29.07.2004 US
Title (EN) METHOD AND APPARATUS FOR SHIFTING AT-SPEED SCAN PATTERNS IN A SCAN-BASED INTEGRATED CIRCUIT
(FR) PROCEDE ET DISPOSITIF POUR LE DECALAGE DE SCHEMAS D'EXPLORATION A LA VITESSE PROPRE DANS UN CIRCUIT INTEGRE A EXPLORATION
Abstract: front page image
(EN)A method and apparatus for time-division demultiplexing and decompressing a compressed input stimulus (421), provided at a selected data-rate R1 (421), into a decompressed stimulus (424, 426, 433, 435), driven at a selected data-rate R2 (442), for driving selected scan chains in a scan-based integrated circuit (401). The scan-based integrated circuit (401) contains a high-speed clock CK1 (443), a low-speed clock CK2 (442), a plurality of scan chains (411), …, (418), each scan chain comprising multiple scan cells coupled in series. The method and apparatus comprises using a plurality of time-division demultiplexors (TDDMs) (402, 403) and time-division multiplexors (TDMs) (408, 409) for shifting stimuli (421) and test responses (444) in and out of high-speed I/O pads. When applied to the scan-based integrated circuit (401) embedded with one or more pairs of decompressors (404, 405) and compressors (406-407), it can further reduce the circuit’s test time, test cost, and scan pin count.
(FR)L'invention concerne un procédé et un dispositif pour le démultiplexage en division temporelle et la décompression de stimulus d'entrée à compression (421), établi selon un débit binaire spécifique R1 (421), en stimulus à décompression (424, 426, 433, 435), activé selon un débit binaire spécifique R2 (442), pour l'activation de chaînes d'exploration spécifiques dans un circuit intégré à exploration (401). Ce circuit intégré (401) comporte une horloge grande vitesse CK1 (443), une horloge basse vitesse CK2 (442), plusieurs chaînes d'exploration (411), , (418), comprenant chacune plusieurs cellules d'exploration couplées en série. Aux fins du procédé et du dispositif, on utilise plusieurs démultiplexeurs en division temporelle (402, 403) et multiplexeurs en division temporelle (408, 409) pour le décalage des stimuli (421) et des réponses d'essai (444) à l'entrée et à la sortie d'étages d'entrée/sortie grande vitesse. En application à ce circuit (401), imbriqué avec une ou plusieurs paires de décompresseurs (404, 405) et de compresseurs (406-407), on parvient à réduire encore le temps d'essai, le coût d'essai et le nombre des broches d'exploration pour le circuit. L'invention concerne également un procédé de synthèse pour les démultiplexeurs en division temporelle (402, 403), les décompresseurs (404, 405), les compresseurs (406, 407), et les multiplexeurs en division temporelle (408, 409).
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)