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1. (WO2005012850) A METHOD FOR RECONSTRUCTING COMPLEX WAVE ATTRIBUTES FROM LIMITED VIEW MEASUREMENTS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2005/012850    International Application No.:    PCT/US2004/024058
Publication Date: 10.02.2005 International Filing Date: 28.07.2004
Chapter 2 Demand Filed:    24.02.2005    
IPC:
G06F 17/14 (2006.01)
Applicants: WITTEN, Alan, J. [US/US]; (US)
Inventors: WITTEN, Alan, J.; (US)
Agent: HALL, Eric, B.; Fulbright & Jaworski L.L.P., 1301 McKinney, Suite 5100, Houston, TX 77010-3095 (US)
Priority Data:
60/490,458 28.07.2003 US
Title (EN) A METHOD FOR RECONSTRUCTING COMPLEX WAVE ATTRIBUTES FROM LIMITED VIEW MEASUREMENTS
(FR) METHODE POUR RECONSTRUIRE DES ATTRIBUTS D'ONDES COMPLEXES A PARTIR DE MESURES DE VISUALISATION LIMITEES
Abstract: front page image
(EN)A method is disclosed for reconstructing complex wave attributes from limited view measurements of a scattering object. The method involves the analytic continuation of the Fourier transform of the object function into the area in which there is an absence of K-space coverage by requiring objects to be an even function. (It is assumed that physical objects are even functions, and it is this assumption that allows analytic continuation.) When the object function is not centered at the origin, the measurements are shifted to the origin prior to determining the analytic continuation and returned to their original location following analytic continuation.
(FR)L'invention concerne une méthode pour reconstruire des attributs d'ondes complexes, à partir de mesures de visualisation limitées d'un objet de diffusion. Cette méthode consiste à effectuer une continuation analytique de la transformée de Fourier de la fonction d'objet dans la zone dans laquelle une couverture d'espace K est absente, en exigeant que les objets soient une fonction paire (on suppose que les objets physiques sont des fonctions paires, et cette hypothèse permet une continuation analytique). Lorsque la fonction d'objet n'est pas centrée à l'origine, les mesures sont décalées à l'origine avant la détermination de la continuation analytique, puis elles retournent à leur emplacement d'origine, après la continuation analytique.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
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African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)