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1. (WO2005010504) DEVICE AND METHOD FOR MEASURING SCATTERING ABSORBER
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2005/010504    International Application No.:    PCT/JP2004/010497
Publication Date: 03.02.2005 International Filing Date: 23.07.2004
IPC:
A61B 5/00 (2006.01), G01N 21/49 (2006.01)
Applicants: HAMAMATSU PHOTONICS K.K. [JP/JP]; 1126-1, Ichino-cho Hamamatsu-shi, Shizuoka 4358558 (JP) (For All Designated States Except US).
YAMANAKA, Takeshi [JP/JP]; (JP) (For US Only).
UEDA, Yukio [JP/JP]; (JP) (For US Only).
YAMASHITA, Yutaka [JP/JP]; (JP) (For US Only)
Inventors: YAMANAKA, Takeshi; (JP).
UEDA, Yukio; (JP).
YAMASHITA, Yutaka; (JP)
Agent: HASEGAWA, Yoshiki; Soei Patent and Law Firm Ginza First Bldg. 10-6, Ginza 1-chome Chuo-ku, Tokyo 1040061 (JP)
Priority Data:
2003-282067 29.07.2003 JP
Title (EN) DEVICE AND METHOD FOR MEASURING SCATTERING ABSORBER
(FR) DISPOSITIF ET METHODE POUR MESURER UN ELEMENT ABSORBANT LA LUMIERE DIFFUSEE
(JA) 散乱吸収体計測装置及び計測方法
Abstract: front page image
(EN)A device for measuring a scattering absorber comprises: a measuring module (1) having an irradiation probe (11) and detection probes (61, 71); and a measuring module (2) having an irradiation probe (21) and detection probes (81, 91). For a common light source for the irradiation probes (11, 21), i.e. a pulse light source (30), a light delay unit (22) is provided between the light source (30) and the irradiation probe (21) so tat a pulse light is irradiated sequentially from the irradiation probes (11, 21). A trigger circuit (50) designates the pulse light irradiation timing of the light source (30) and the light detection timing of signal processing circuits (62-92) in synchronism with the irradiation timing. Thus, it is possible to realize a device and a method for measuring a scattering absorber capable of suppressing crosstalk between channels with no spatial limitation.
(FR)L'invention concerne un dispositif pour mesurer un élément absorbant la lumière diffusée. Ce dispositif comprend: un module de mesure (1) présentant une sonde d'irradiation (11) et des sondes de détection (61, 71); et un module de mesure (2) présentant une sonde d'irradiation (21) et des sondes de détection (81, 91). Pour une source de lumière commune destinée aux sondes d'irradiation (21, 11), à savoir une source de lumière pulsée (30), une unité de retard de lumière (22) est prévue entre la source lumineuse (30) et la sonde d'irradiation (21), de sorte qu'une lumière pulsée est séquentiellement irradiée à partir des sondes d'irradiation (11, 21). Un circuit déclencheur (50) désigne la synchronisation d'irradiation de lumière pulsée de la source de lumière (30) et la synchronisation de détection de lumière des circuits de traitement de signal (62, 92), en synchronisation avec la synchronisation d'irradiation. Ainsi, il est possible d'obtenir un dispositif et une méthode pour mesurer un élément absorbant la lumière diffusée. Ce dispositif et cette méthode permettent de supprimer une diaphonie entre des canaux ne présentant pas de limitation spatiale.
(JA) 照射プローブ11、及び検出プローブ61、71を有する計測モジュール1と、照射プローブ21、及び検出プローブ81、91を有する計測モジュール2とで散乱吸収体計測装置を構成する。また、照射プローブ11、21に対する共通の光源であるパルス光源30に対し、光源30と照射プローブ21との間に光遅延器22を設け、パルス光が照射プローブ11、21から逐次に照射されるようにする。トリガ回路50は、光源30に対してパルス光の照射タイミングを指示するとともに、信号処理回路62~92に対して、照射タイミングと同期したそれぞれでの光の検出タイミングを指示する。これにより、空間的な制約を受けることなく、チャンネル間でのクロストークを抑制することが可能な散乱吸収体計測装置、及び計測方法が実現される。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)