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1. (WO2004100070) ITERATIVE METHOD OF DETERMINING A SPATIAL DISTRIBUTION OF VALUES OF A PROPERTY
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2004/100070    International Application No.:    PCT/IB2004/050507
Publication Date: 18.11.2004 International Filing Date: 26.04.2004
IPC:
G06T 11/00 (2006.01)
Applicants: PHILIPS INTELLECTUAL PROPERTY & STANDARDS GMBH [DE/DE]; Steindamm 94, 20099 Hamburg (DE) (DE only).
KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N. V. [NL/NL]; Groenewoudseweg 1, NL-5621 BA Eindhoven (NL) (AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BE, BF, BG, BJ, BR, BW, BY, BZ, CA, CF, CG, CH, CI, CM, CN, CO, CR, CU, CY, CZ, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, FR, GA, GB, GD, GE, GH, GM, GN, GQ, GR, GW, HR, HU, ID, IE, IL, IN, IS, IT, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MC, MD, MG, MK, ML, MN, MR, MW, MX, MZ, NA, NE, NI, NL, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SI, SK, SL, SN, SY, SZ, TD, TG, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW only).
PROKSA, Roland [DE/DE]; (DE) (For US Only).
KÖHLER, Thomas [DE/DE]; (DE) (For US Only)
Inventors: PROKSA, Roland; (DE).
KÖHLER, Thomas; (DE)
Agent: MEYER, Michael; Philips Intellectual Property & Standards GmbH, Weisshausstr. 2, 52066 Aachen (DE)
Priority Data:
03101249.5 06.05.2003 EP
Title (EN) ITERATIVE METHOD OF DETERMINING A SPATIAL DISTRIBUTION OF VALUES OF A PROPERTY
(FR) PROCEDE ITERATIF POUR DETERMINER UNE DISTRIBUTION SPATIALE DES VALEURS D'UN ATTRIBUT
Abstract: front page image
(EN)The invention relates to an iterative method of determining a spatial distribution of values of a property of an object, and particularly values of its absorption, in an examination region, on the basis of measured values that values are acquired with a measuring device, and particularly with a computer tomograph. The reliability of each measured value is taken into account when this is done. The measured values can each be represented as a sum of values of the property that have each been multiplied by a proportional factor, the proportional factor being a measure of the proportion that a value of the property forms of the measured value. Each value of the property is approached by one iteration value at a time by setting each iteration value to a starting value and, in an iteration step, generating for each measured value a reference measured value, forming the difference between each reference measured value and the corresponding measured value, and multiplying this difference by a reliability parameter and projecting it backward into the examination region.
(FR)L'invention concerne un procédé itératif pour déterminer une distribution spatiale des valeurs d'un attribut d'un objet, et notamment des valeurs concernant son absorption, dans une région d'examen, sur la base de valeurs mesurées acquises avec un dispositif de mesure, notamment un tomodensitomètre. La fiabilité de chaque valeur mesurée est prise en compte au cours de ce processus. Les valeurs mesurées peuvent chacune être représentée sous la forme d'une somme de valeurs de l'attribut qui ont été chacune multipliées par un facteur proportionnel, ce dernier étant une mesure de la proportion qu'une valeur de l'attribut représente de la valeur mesurée. Une valeur d'itération à la fois permet d'approcher chaque valeur de l'attribut par le réglage de chaque valeur d'itération sur une valeur de début et, lors d'une étape d'itération, par la génération, pour chaque valeur mesurée, d'une valeur mesurée de référence, par l'établissement de la différence entre chaque valeur mesurée de référence et la valeur mesurée correspondante, et par la multiplication de cette différence par un paramètre de fiabilité et par sa rétropolation dans la région d'examen.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)