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1. (WO2004097435) EXAMINING INSTRUMENT FOR LIQUID CRYSTAL PANEL
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2004/097435    International Application No.:    PCT/JP2004/005897
Publication Date: 11.11.2004 International Filing Date: 23.04.2004
IPC:
G01R 1/04 (2006.01), G02F 1/1362 (2006.01)
Applicants: NHK SPRING CO., LTD. [JP/JP]; 3-10, Fukuura, Kanazawa-ku Yokohama-shi, Kanagawa 236-0004 (JP) (For All Designated States Except US).
SOTOMA, Hiroyasu [JP/JP]; (JP) (For US Only)
Inventors: SOTOMA, Hiroyasu; (JP)
Agent: SAKAI, Hiroaki; Sakai International Patent Office Kasumigaseki Building 2-5, Kasumigaseki 3-chome Chiyoda-ku, Tokyo 100-6019 (JP)
Priority Data:
2003-122718 25.04.2003 JP
Title (EN) EXAMINING INSTRUMENT FOR LIQUID CRYSTAL PANEL
(FR) INSTRUMENT D'EXAMEN POUR PANNEAU A CRISTAUX LIQUIDES
(JA) 液晶パネル用検査装置
Abstract: front page image
(EN)An examining instrument for examining a liquid crystal panel (3) by bringing probe blocks (1) into contact with a conductive pattern (4) for terminals of the liquid crystal panel (3). Odd- and even-number corresponding flexible boards (5a, 5b) of flexible boards (5) provided to respective probe blocks are installed separately at respective installation positions of odd- and even-number corresponding address portions (6a, 6b) of a relay board (6) by bringing the connection ends (5A, 5B) near the odd- and even-number corresponding address portions (6a, 6b) and connecting them. Thus, the connection wires (15) between the connection ends (5A, 5B) and the odd- and even-number corresponding address portions (6a, 6b) can be reduced to a possible minimum value, and intersections of the connection wires (15) can be avoided to simplify the structure.
(FR)Cette invention se rapporte à un instrument d'examen qui permet d'examiner un panneau à cristaux liquides (3) en amenant des blocs sondes (1) en contact avec un tracé conducteur (4) pour les bornes du panneau à cristaux liquides (3). Des cartes souples (5a, 5b) correspondant à des nombres pairs et impairs parmi des cartes souples prévues pour des blocs sondes respectifs sont installées séparément dans des positions d'installation respectives de parties d'adresse (6a, 6b) de nombres pairs et impairs d'une carte à relais (6), en amenant les extrémités de connexion (5A, 5B) proches des parties d'adresse (6a, 6b) correspondant à des nombres pairs et impairs et en les connectant. Ainsi, les fils de connexion (15) entre les extrémités de connexion (5a, 5b) et les parties d'adresse (6a, 6b) correspondant à des nombres pairs et impairs peuvent être réduits à une valeur minimum possible, et les intersections des fils de connexion (15) peuvent être évitées, ce qui simplifie la structure.
(JA)複数個のプローブブロック(1)を液晶パネル(3)の端子用導電パターン(4)に当接させて検査を行う液晶パネル用検査装置において、プローブブロック(1)の各々に設けられる各フレキシブル基板(5)毎に、奇数および偶数対応フレキシブル基板(5a)および(5b)を、中継基板(6)内の奇数および偶数対応アドレス部(6a)および(6b)の設置位置に応じて相互に振り分けて、その各接続端部(5A)、(5B)をそれぞれ奇数および偶数対応アドレス部(6a)および(6b)に漸近させて接続する。これによりフレキシブル基板(5)の各接続端部(5A)、(5B)と奇数および偶数対応アドレス部(6a)および(6b)との接続配線(15)を極力短く設定することができると共に接続配線(15)の交差状態の出現を避けて簡素化を図ることができる。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)