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1. (WO2004097333) METHOD AND DEVICE FOR DETERMINING MOTION PARAMETERS OF A CONDUCIVE, PREFERABLY PROFILED SURFACE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2004/097333    International Application No.:    PCT/DE2004/000296
Publication Date: 11.11.2004 International Filing Date: 17.02.2004
IPC:
G01B 7/00 (2006.01), G01B 7/14 (2006.01)
Applicants: MICRO-EPSILON MESSTECHNIK GMBH & CO. KG [DE/DE]; Königsbacher Strasse 15, 94496 Ortenburg (DE) (For All Designated States Except US).
MEDNIKOV, Stanislav [RU/DE]; (DE) (For US Only).
NETCHAEWSKIJ, Mark [RU/RU]; (RU) (For US Only).
MEDNIKOV, Felix [RU/DE]; (DE) (For US Only).
GRÖMMER, Werner [DE/DE]; (DE) (For US Only).
SELLEN, Martin [DE/DE]; (DE) (For US Only)
Inventors: MEDNIKOV, Stanislav; (DE).
NETCHAEWSKIJ, Mark; (RU).
MEDNIKOV, Felix; (DE).
GRÖMMER, Werner; (DE).
SELLEN, Martin; (DE)
Agent: ULLRICH & NAUMANN; Patent- und Rechtsanwälte, Luisenstrasse 14, 69115 Heidelberg (DE)
Priority Data:
103 19 818.0 30.04.2003 DE
103 32 761.4 17.07.2003 DE
Title (DE) VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR BESTIMMUNG VON BEWEGUNGSPARAMETERN EINER LEITENDEN, VORZUGSWEISE PROFILIERTEN OBERFLÄCHE
(EN) METHOD AND DEVICE FOR DETERMINING MOTION PARAMETERS OF A CONDUCIVE, PREFERABLY PROFILED SURFACE
(FR) PROCEDE ET DISPOSITIF POUR DETERMINER DES PARAMETRES DE MOUVEMENT D'UNE SURFACE CONDUCTRICE, DE PREFERENCE PROFILEE
Abstract: front page image
(DE)Ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Bestimmung von Bewegungsparametern einer leitenden, vorzugsweise profilierten Oberfläche (22) relativ zu einem Sensor (3), wobei der Sensor (3) mindestens eine Spule zur Erzeugung eines elektromag­netischen Wechselfeldes umfasst, welches aufgrund der Rückwirkung in Folge von Positionsänderungen zwischen der Oberfläche (22) und dem Sensor (3) einer Ver­änderung unterliegt, die mittels der Spule (16) erfasst wird, ist derart ausgestaltet, dass die Positionsänderung aus der Kopplungsimpedanz (Zc) der Spule (16) abge­leitet wird und der Realteil (Rc) und der Imaginärteil (Xc) der komplexen Kopplungs­impedanz (Zc) der Spule (16) ermittelt werden, wobei der Abstand d zwischen Sen­sor (3) und Oberfläche (22) auf Grundlage der ermittelten Werte unter Zugrundele­gung eines Algorithmus berechnet wird.
(EN)The invention relates to a method and device for determining motion parameters of a conductive, preferably profiled surface (22) with respect to a sensor (3) which comprises at least one coil for forming an alternate electromagnetic field which is exposed to a variation detectable with the aid of the coil (16) as a result of the reaction provoked by change in position between the surface (22) and the sensor (3). According to said invention, said change in position is deduced from a coupling impedance (Zc) of the coil (16), the real component (Rc) and imaginary part (Xc) of the complex coupling impedance (Zc) of the coil (16) being determined. A distance (d) between the sensor (3) and the surface (22) is computed according to the values determined on the basis of an algorithm.
(FR)L'invention concerne un procédé et un dispositif pour déterminer des paramètres de mouvement d'une surface (22) conductrice, de préférence profilée, par rapport à un détecteur (3). Ce dernier (3) présente au moins une bobine servant à créer un champ électromagnétique alternatif qui, en raison de la réaction provoquée par des changements de position entre la surface (22) et le détecteur (3), est soumis à une variation qui est détectée au moyen de la bobine (16). Selon l'invention, le changement de position est déduit à partir de l'impédance de couplage (Zc) de la bobine (16), et la composante réelle (Rc) et la composante imaginaire (Xc) de l'impédance de couplage complexe (Zc) de la bobine (16) sont déterminées. La distance (d) entre le détecteur (3) et la surface (22) est calculée en fonction des valeurs déterminées sur la base d'un algorithme.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: German (DE)
Filing Language: German (DE)