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1. (WO2004094939) MAGNETIC PROBE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2004/094939    International Application No.:    PCT/JP2003/005132
Publication Date: 04.11.2004 International Filing Date: 22.04.2003
IPC:
G01B 7/28 (2006.01), G01L 1/12 (2006.01), G01N 27/72 (2006.01)
Applicants: AZUMA SYSTEMS CO., LTD [JP/JP]; 1093, Oaza Menuma, Menumamachi, Osato-gun, Saitama 360-0201 (JP) (For All Designated States Except US).
YAMAKAWA, Kazuhiro [JP/JP]; (JP) (For US Only).
TABATA, Kazuaki [JP/JP]; (JP) (For US Only)
Inventors: YAMAKAWA, Kazuhiro; (JP).
TABATA, Kazuaki; (JP)
Agent: HIROSE, Tetsuo; Nakanishi Bldg. 5th Floor, 2-5-6, Nishikanda, Chiyoda-ku, Tokyo 101-0065 (JP)
Priority Data:
Title (EN) MAGNETIC PROBE
(FR) SONDE MAGNÉTIQUE
(JA) 磁気プローブ
Abstract: front page image
(EN)A magnetic probe comprising a detection coil the shape of which is changeable freely depending on a test object or a required sensing accuracy precisely detects a change in the magnetic flux along the surface of the test object. A magnetic probe (1), which detects a change in the magnetic flux in the vicinity of the surface of an object (2) while generating an AC magnetic field inside the object (2) containing a metal component and/or in the space on the surface of the object (2), comprises a ferromagnetic core (3) having object proximity sections (3a), forming a looped magnetic circuit through the inside of the object (2) and/or the space on the surface of the object (2), an excitation coil (4) AC-exciting the core (3) and generating an AC magnetic field along the surface of the object inside the object (2) and/or in the space on the surface of the object (2), and a detection coil (5) the coil center line of which extends along the surface of the object (2), the coil outer face of which locally faces the surface of the object (2), and which detects a change in the magnetic flux in the vicinity of the surface of the object (2).
(FR)L'invention concerne une sonde magnétique comprenant une bobine de détection dont on peut modifier librement la forme en fonction d'un objet d'essai ou une exactitude de détection requise qui détecte avec précision un changement au niveau du flux magnétique sur la surface de l'objet en question. Une sonde magnétique (1), qui détecte un changement au niveau du flux magnétique à proximité de la surface d'un objet (2) tout en générant un champ magnétique CA à l'intérieur de l'objet (2) contenant un composant métallique et/ou dans l'espace sur la surface de l'objet (2), comprend un noyau ferromagnétique (2) ayant des sections (3a) de proximité de l'objet, formant un circuit magnétique en boucle traversant l'intérieur de l'objet (2) et/ou l'espace sur la surface de l'objet (2), une bobine d'excitation (4) qui excite en courant alternatif le noyau (3) et qui génère un champ magnétique CA sur la surface de l'objet à l'intérieur de l'objet (2) et/ou dans l'espace sur la surface de l'objet (2), et une bobine de détection (5) dont la ligne centrale s'étend le long de la surface de l'objet (2), dont la face externe regarde localement la surface de l'objet (2), et qui détecte un changement au niveau du flux magnétique à proximité de la surface de l'objet (2).
(JA)検査対象や要求検出精度に応じて自由に形状などの変更が可能な検出コイルを用いる磁気プローブにおいて、被検体の表面に沿う方向の磁束変化を精度良く検出できるようにする。金属成分を含む被検体2の内部及び/又は被検体2の表面空間に交流磁界を発生させながら、被検体2の表面近傍で磁束変化を検出する磁気プローブ1であって、複数の被検体近接部3aを有し、被検体2の内部及び/又は被検体2の表面空間を存して、ループ状の磁気回路を形成する強磁性体のコア3と、コア3を交流励磁し、被検体2の内部及び/又は被検体2の表面空間に、被検体2の表面に沿う交流磁界を発生させる励磁コイル4と、コイル中心線が被検体2の表面に沿い、かつ、コイル外周面が被検体2の表面に局部的に対向するように配置され、被検体2の表面近傍で磁束変化を検出する検出コイル5とを備える。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NI, NO, NZ, OM, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)