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1. (WO2004093663) WAVEFRONT CALIBRATION ANALYZER AND METHODS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2004/093663    International Application No.:    PCT/US2004/007780
Publication Date: 04.11.2004 International Filing Date: 12.03.2004
Chapter 2 Demand Filed:    02.11.2004    
IPC:
G01J 1/00 (2006.01), G01B 9/00 (2006.01), A61N 5/06 (2006.01)
Applicants: VISX INCORPORATED [US/US]; 3400 Central Expressway, Santa Clara, CA 95051-0703 (US) (For All Designated States Except US).
LIANG, Junzhong [US/US]; (US) (For US Only).
CHERNYAK, Dimitri [US/US]; (US) (For US Only).
YEE, Kingman [US/US]; (US) (For US Only).
SOMANI, Seema [IN/US]; (US) (For US Only).
PERSOFF, Jeffrey, J. [US/US]; (US) (For US Only).
HUFF, Walter [US/US]; (US) (For US Only).
CAMPBELL, Charles [US/US]; (US) (For US Only).
MUNNERLYN, Charles, R. [US/US]; (US) (For US Only).
BLIVEN, Brian [US/US]; (US) (For US Only)
Inventors: LIANG, Junzhong; (US).
CHERNYAK, Dimitri; (US).
YEE, Kingman; (US).
SOMANI, Seema; (US).
PERSOFF, Jeffrey, J.; (US).
HUFF, Walter; (US).
CAMPBELL, Charles; (US).
MUNNERLYN, Charles, R.; (US).
BLIVEN, Brian; (US)
Agent: SMITH, Scott, M.; TOWNSEND AND TOWNSEND AND CREW LLP, Two Embarcadero Center, 8th Floor, San Francisco, CA 94111-3834 (US)
Priority Data:
60/461,739 09.04.2003 US
60/518,867 10.11.2003 US
Title (EN) WAVEFRONT CALIBRATION ANALYZER AND METHODS
(FR) ANALYSEUR POUR L'ETALONNAGE DE FRONTS D'ONDE, ET PROCEDES ASSOCIES
Abstract: front page image
(EN)A wavefront sensor (100) enhances calibration of a laser ablation system, such as a laser eye surgery system, by measuring one or more characteristics of an ablated test surface (110). Typically, light (120) is passed through the ablated test surface (110), and the light is analyzed to determine the test surface characteristics. In some embodiments, the ablated test surface (110) is positioned along a treatment plane. In some embodiments, light is passed through a wavefront sensor (100), such as a Hartmann-Shack sensor (1105), to convert the light into electrical signals. A processor (108) then converts the electrical signals into data, such as surface maps showing high-order aberrations and/or artifacts on the test surface, refractive power measurements, shape measurements, and the like. Generated data may then be used to calibrate a laser surgery system.
(FR)Selon l'invention, un capteur de front d'onde améliore l'étalonnage d'un système d'ablation à laser, tel qu'un système de chirurgie oculaire à laser, en mesurant au moins une caractéristique d'une surface test prélevée. Généralement, on fait passer de la lumière à travers ladite surface test et on analyse ladite lumière pour déterminer les caractéristiques de cette surface. Dans certains modes de réalisation, la surface test prélevée est placée le long d'un plan de traitement. Dans certains modes de réalisation, on fait passer de la lumière à travers un capteur de front d'onde, tel qu'un capteur de Hartmann-Shack pour la convertir en signaux électriques. Un processeur transforme alors ces signaux électriques en données, telles que des cartes de la surface montrant des aberrations d'ordre supérieur et/ou des artefacts sur la surface test, des mesures de réfringence, des mesures de formes et analogues. Les données générées peuvent ensuite être utilisées pour l'étalonnage du système de chirurgie à laser.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)