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1. (WO2004034022) SHAPE OPTIMIZATION TO SOLVE INVERSE PROBLEMS AND CURVE/MODEL FITTING PROBLEMS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2004/034022    International Application No.:    PCT/US2003/031952
Publication Date: 22.04.2004 International Filing Date: 08.10.2003
IPC:
G06F 17/15 (2006.01), G06F 17/17 (2006.01)
Applicants: CASE WESTERN RESERVE UNIVERSITY [US/US]; 10900 Euclid Avenue, Cleveland, OH 44106 (US) (For All Designated States Except US).
GRATZL, Miklos [US/US]; (US) (For US Only).
NAIR, Sumitha [IN/US]; (US) (For US Only)
Inventors: GRATZL, Miklos; (US).
NAIR, Sumitha; (US)
Agent: MINNICH, Richard, J.; Fay, Sharpe, Fagan, Minnich & McKee, LLP, 1100 Superior Avenue, Seventh Floor, Cleveland, OH 44114 (US)
Priority Data:
60/416,993 08.10.2002 US
Title (EN) SHAPE OPTIMIZATION TO SOLVE INVERSE PROBLEMS AND CURVE/MODEL FITTING PROBLEMS
(FR) OPTIMISATION DE FORMES POUR LA RESOLUTION DE PROBLEMES INVERSES ET DE PROBLEMES D'AJUSTEMENT DE COURBES/MODELES
Abstract: front page image
(EN)A method for solving deconvolution problems where it is desired to reconstruct a signal over a time range or another variable of interest involves comparing shapes of measured and reconstructed plots. The optimization method is based on minimizing the error in shape (as opposed to the square errors in amplitude). A shape approach method characterizes similarity of two functions: by computing the angle between the two when they are treated as two vectors in the n dimensional space where n is the number of data points it is desired to consider from both functions (the functions themselves may consist of more than n data points). A new approximation is then created by trying to decrease the disimilarity between the actual and predicted functions. This dissimilarity is measured as the angle between the two corresponding vectors, so the measure of dissimilarity is the size of the angle. A much closer matching between the reconstructed plot and what may be expected in practice (Fig. 13) is achieved with this method than is conventionally achieved with least squares or Fourier transform methods.
(FR)La présente invention concerne un procédé de résolution de problèmes de déconvolution dans lesquels il est souhaitable de reconstituer un signal sur une plage de temps ou une autre variable d'intérêt, ledit procédé consistant à comparer des formes de tracés mesurés et reconstitués. Le procédé d'optimisation est basé sur la minimisation de l'erreur de forme (par opposition aux erreurs quadratiques d'amplitude). Un procédé d'approche de forme caractérise la similitude de deux fonctions en calculant l'angle existant entre les deux fonctions lorsqu'elles sont traitées comme deux vecteurs dans l'espace à n dimensions, où n est le nombre de points de données qu'il est souhaitable de considérer dans les deux fonctions (les fonctions elles-mêmes peuvent être constituées de plus que n points de données). On crée ainsi une nouvelle approximation en essayant de réduire la dissimilitude entre les fonctions réelles et prédites. Cette dissimilitude constitue une mesure de l'angle entre les deux vecteurs correspondants, de sorte que la mesure de dissimilitude correspond à la valeur de l'angle. Ce procédé permet d'obtenir un ajustement bien plus serré entre le tracé reconstitué et ce à quoi il est possible de s'attendre en pratique, que ce qu'il est possible d'obtenir de manière classique avec des procédés basés sur l'utilisation des moindres carrés ou de transformées de Fourier.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)