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1. (WO2004032405) METHOD AND APPARATUS FOR BIT ERROR RATE ANALYSIS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2004/032405    International Application No.:    PCT/US2003/030544
Publication Date: 15.04.2004 International Filing Date: 30.09.2003
IPC:
H04L 1/24 (2006.01)
Applicants: LECROY CORPORATION [US/US]; 700 Chestnut Ridge Road, Chestnut Ridge, NY 10977-6499 (US)
Inventors: SALANT, Lawrence, Steven; (US).
CAMPICHE, Thierry; (CH).
MILLER, Martin; (CH).
SCHNECKER, Michael; (US)
Agent: FROMMER, William, S._; Frommer Lawrence & Haug LLP, 745 Fifth Avenue, New York, NY 10151 (US)
Priority Data:
60/415,155 30.09.2002 US
10/673,712 29.09.2003 US
Title (EN) METHOD AND APPARATUS FOR BIT ERROR RATE ANALYSIS
(FR) PROCEDE ET APPAREIL D'ANALYSE DE TAUX D'ERREUR BINAIRE
Abstract: front page image
(EN)A method and apparatus for determining a bit error rate. The method comprises the steps of acquiring (310) a data signal by an acquisition unit of a test instrument for a predetermined period of time, and storing the data signal in a memory of the test instrument. A clock signal is recovered (315) from the stored data signal, and in accordance therewith, the stored data signal is sliced into a plurality of data segments of a predetermined length. Each of said data segments is synchronized (662) to a frame or (335) predetermined pattern to determine (345) a bit error rate thereof.
(FR)L'invention concerne un procédé et un appareil de détermination d'un taux d'erreur binaire. Le procédé consiste en l'acquisition (310) d'un signal de données par une unité d'acquisition d'un instrument de test pendant une période déterminée, et à stocker le signal de données dans une mémoire de l'instrument de test. Un signal d'horloge est récupéré (315) à partir du signal de données stocké, ce signal étant, en outre, découpé en plusieurs segments de données de longueur déterminée. Chaque segment de données est synchronisé (662) à une trame ou (335) à une structure déterminée afin d'en déterminer (345) le taux d'erreur binaire.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)