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1. (WO2004029664) A METHOD FOR RESISTIVITY ANISOTROPY DETERMINATION IN NEAR VERTICAL WELLS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2004/029664    International Application No.:    PCT/US2003/030440
Publication Date: 08.04.2004 International Filing Date: 26.09.2003
Chapter 2 Demand Filed:    27.04.2004    
IPC:
G01V 3/20 (2006.01), G01V 3/28 (2006.01)
Applicants: BAKER HUGHES INCORPORATED [US/US]; 3900 Essex Lane, Suite 1200, Houston, TX 77027 (US)
Inventors: FRENKEL, Michael, A.; (US).
GELDMACHER, Ingo, M.; (US)
Agent: RIDDLE, J., Albert; Baker Hughes Incorporated, 3900 Essex Lane, Suite 1200, Houston, TX 77027 (US)
Priority Data:
60/414,174 27.09.2002 US
Title (EN) A METHOD FOR RESISTIVITY ANISOTROPY DETERMINATION IN NEAR VERTICAL WELLS
(FR) PROCEDE DE DETERMINATION DE L'ANISOTROPIE DE RESISTIVITE DANS DES PUITS QUASI VERTICAUX
Abstract: front page image
(EN)A method is disclosed for real-time (well-site) resistivity anisotropy determination using array lateral logs or any other unfocused, lateral-type measurements, and array induction logs or any other focused, induction-type measurements. Near-vertical wells with a deviation angle of less than 30 degrees are considered. Since with a lateral log, at each logging depth the injected current has both horizontal and vertical components, the data contains information related to both horizontal (Rh) and vertical (Rv) resistivities. With array induction tool, the induced current in near-vertical wells has only a horizontal component, and the induction data contain information related to Rh only. Having those two data sets acquired in the same well, it is possible to instantly estimate the formation resistivity anisotropy using square of a ratio between borehole and invasion corrected lateral and induction focused logs.
(FR)Cette invention concerne un procédé de détermination de la résistivité anisotropique en temps réel (dans le puits) au moyen de diagraphies latérales matricielles ou de tout autre mesure de type latéral non ciblée, et des relevés par induction matricielle ou tout autre mesure par induction ciblée. Sont concernés ici des puits quasi verticaux avec angle de déviation de moins de 30 °. Etant donné qu'avec une diagraphie latérale et à chaque profondeur de mesure, le courant envoyé présente des composantes à la fois horizontales et verticales, les données contiennent des informations relatives aux résistivités tant horizontales (R<sb>h</sb>) que verticales (R<sb>v</sb>). Avec l'appareil à induction matricielle, le courant induit dans des puits quasi verticaux possède uniquement une composante horizontale et les données d'induction ne contiennent que des informations sur R<sb>h</sb>. Lorsque l'on dispose de ces deux ensembles de données pour seul et même puits, il est possible d'estimer instantanément l'anisotropie de résistivité de la formation au moyen du carré d'un rapport entre le diamètre du puits et des diagraphies latérales à invasion corrigée et des ciblées par induction.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)