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1. (WO2004026475) SAMPLE PLATE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2004/026475    International Application No.:    PCT/AU2003/001222
Publication Date: 01.04.2004 International Filing Date: 17.09.2003
IPC:
B01L 3/00 (2006.01), G01N 21/03 (2006.01)
Applicants: AG-ID PTY LTD [AU/AU]; 328 Aberdeen Street, West Perth, Western Australia 6005 (AU) (For All Designated States Except US).
PFISTERSHAMMER, Josef [AU/AU]; (AU) (For US Only)
Inventors: PFISTERSHAMMER, Josef; (AU)
Agent: WRAY & ASSOCIATES; Level 4, The Quadrant, 1 William Street, Perth, Western Australia 6000 (AU)
Priority Data:
2002951424 17.09.2002 AU
Title (EN) SAMPLE PLATE
(FR) PLATEAU D'ECHANTILLONNAGE
Abstract: front page image
(EN)A sample plate (10) having provided therein an array of wells (20) open to an upper surface (16) of the plate (10), the upper surface (16) of the plate (10) having provided thereacross a film or sheet (30) sealing the wells (20) from contamination and/or contact. Also described is a method for the optical measurement of an array of samples, the method comprising providing a sample plate (10) containing an array of discreet wells (20), at least a portion of the wells (20) containing a sample to be measured, the sample plate (10) being positioned above a charged coupled device whereby an optical image of the samples within the wells (20) can be obtained from beneath so as to determine an activity or similar measurement within the well (20), the charged coupled device being such that all wells (20) of the sample plate (10) are measured simultaneously.
(FR)L'invention concerne un plateau d'échantillonnage (10) présentant un réseau de puits (20) ouvert sur une surface supérieure (16) du plateau (10). La surface supérieure (16) du plateau (10) présente un film ou une feuille (30) posée sur celle-ci, ce qui permet de réaliser l'étanchéité des puits (20), les protégeant ainsi de toute contamination et/ou de tout contact. L'invention concerne également une méthode de mesure optique d'un réseau d'échantillons. Cette méthode consiste à fournir un plateau d'échantillonnage (10) contenant un réseau de puits discrets (20), au moins une partie de ces puits (20) contenant un échantillon à mesurer. Le plateau d'échantillonnage (10) est positionné au-dessus d'un dispositif couplé chargé. Une image optique des échantillons situés à l'intérieur des puits (20) peut être obtenue, par en-dessous, de sorte à déterminer une activité ou une mesure similaire à l'intérieur du puits (20). Le dispositif couplé chargé est tel que tous les puits (20) du plateau d'échantillonnage (10) sont mesurés simultanément.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)