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1. (WO2004010535) UNDERSAMPLED MICROSTRIP ARRAY USING MULTILEVEL AND SPACE-FILLING SHAPED ELEMENTS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2004/010535    International Application No.:    PCT/EP2002/007835
Publication Date: 29.01.2004 International Filing Date: 15.07.2002
Chapter 2 Demand Filed:    13.02.2004    
IPC:
H01Q 5/00 (2006.01), H01Q 9/04 (2006.01), H01Q 21/06 (2006.01), H01Q 21/30 (2006.01)
Applicants: FRACTUS, S.A. [ES/ES]; Alcalde Barnils, 64-68, Edificio TESTA, mod. C3, Parque Empresarial San Joan Despi, 08190 SAN CUGAT DEL VALLES (Barcelona) (ES) (For All Designated States Except US).
ANGUERA PROS, Jaume [ES/ES]; (ES) (For US Only).
PUENTE BALIARDA, Carles [ES/ES]; (ES) (For US Only).
BORJA BORAU, Maria-Carmen [ES/ES]; (ES) (For US Only)
Inventors: ANGUERA PROS, Jaume; (ES).
PUENTE BALIARDA, Carles; (ES).
BORJA BORAU, Maria-Carmen; (ES)
Agent: CARPINTERO LOPEZ, Francisco; Herrero & Asociados, S.L., Alcalá, 35, 28014 MADRID (ES)
Priority Data:
Title (EN) UNDERSAMPLED MICROSTRIP ARRAY USING MULTILEVEL AND SPACE-FILLING SHAPED ELEMENTS
(FR) ENSEMBLE A MICRORUBAN SOUS-ECHANTILLONNE A BASE D'ELEMENTS MULTI-NIVEAU HAUTE DENSITE
Abstract: front page image
(EN)An undersampled microstrip array using multilevel and space-filling shaped patch elements based on a fractal geometry achieves within the same electrical area, the same directivity than can be obtained using conventional elements as square or circular-shaped patches. However, the number of elements for the fractal-based array is less, reducing the complexity of the feeding network and overall array. Mutual coupling can be reduced avoiding radiation pattern distortions. Higher gain than that obtained using classical patch elements within the same electrical can be achieved due to the less complexity in the feeding network.
(FR)Cette invention concerne un ensemble à microruban sous-échantillonné à base d'éléments plaques multi-niveau de forte densité, à géométrie fractale, permettant d'obtenir, au sein d'une même superficie électrique, la même directivité qu'avec des éléments plaques classiques de forme carrée ou circulaire. Toutefois, le nombre d'éléments pour l'ensemble à géométrie fractale est moindre, ce qui réduit la complexité du réseau d'alimentation et de l'ensemble global. Le couplage mutuel peut être réduit, ce qui empêche les distorsions du mode de rayonnement. La moindre complexité du réseau d'alimentation procure un gain supérieur à celui d'éléments plaques classiques pour une même superficie électrique.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, OM, PH, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)