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1. (WO2004010123) CARBON BLACK SAMPLING FOR PARTICLE SURFACE AREA MEASUREMENT USING LASER-INDUCED INCANDESCENCE AND REACTOR PROCESS CONTROL BASED THEREON
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2004/010123    International Application No.:    PCT/US2003/022532
Publication Date: 29.01.2004 International Filing Date: 18.07.2003
Chapter 2 Demand Filed:    19.02.2004    
IPC:
G01N 1/22 (2006.01), G01N 1/24 (2006.01), G01N 15/00 (2006.01), G01N 15/02 (2006.01), G01N 15/06 (2006.01), G01N 15/14 (2006.01), G01N 21/71 (2006.01)
Applicants: COLUMBIAN CHEMICALS COMPANY [US/US]; 1800 West Oak Commons Court, Marietta, GA 30062-2253 (US)
Inventors: STAGG, Barry, James; (US)
Agent: ADES, Patricia, L.; Needle & Rosenberg, P.C., 999 Peachtree Street, Suite 1000, Atlanta, GA 30309-3915 (US)
Priority Data:
60/397,428 19.07.2002 US
Title (EN) CARBON BLACK SAMPLING FOR PARTICLE SURFACE AREA MEASUREMENT USING LASER-INDUCED INCANDESCENCE AND REACTOR PROCESS CONTROL BASED THEREON
(FR) ECHANTILLONAGE DE NOIRS DE CARBONE POUR LA MESURE D'UNE SURFACE PARTICULAIRE AU MOYEN D'UNE INCANDESCENCE INDUITE PAR LASER ET COMMANDE ASSOCIEE D'UN PROCESSUS A REACTEUR
Abstract: front page image
(EN)Method for in-situ sampling and measuring particulate (e.g., carbon black) fineness in a process stream, such as in a carbon black reactor, comprising (a) sampling particles in-situ from a process stream, (b) adjusting the sample to conditions suitable for 1,11, (c) measuring the fineness using LII, and (d) correlating the LII fineness measurement with actual particle fineness. Method for in-situ sampling a particle-containing stream and measuring particle fineness using laserinduced incandescence (LII) comprising (a) sampling particles in-situ, (b) adjusting the sample to conditions suitable for LII, (c) measuring the adjusted sample using LII, and (d) correlating the LII measurements with actual particle fineness. Also included is a method of sampling and controlling a process based on the real-time, on-line, in-situ methods for sampling and measuring particles. Sampling can comprise drawing a sidestream from a source of the particles. Adjusting the sample to conditions suitable for LII can comprise diluting the sample or bringing the temperature of the sample to ambient conditions. Correlating may comprise using a correlation function determined by comparing LII measurements and laboratory fineness measurements for particle samples drawn at the same time.
(FR)L'invention concerne un procédé d'échantillonnage in situ et de mesure de la finesse particulaire (par ex., noir de carbone) dans un flux de traitement, tel que dans un réacteur de noirs de carbone. Ce procédé consiste à (a) échantillonner des particules in situ à partir d'un flux de traitement, (b) ajuster l'échantillon aux conditions appropriées à une incandescence induite par laser, mesurer la finesse au moyen d'une incandescence induite par laser, et (d) corréler la mesure de la finesse obtenue par l'incandescence induite par laser avec la finesse particulaire du moment. Un procédé d'échantillonnage in situ d'un flux contenant des particules et de mesure de la finesse particulaire au moyen d'une incandescence induite par laser (LII) consiste à (a) échantillonner des particules in situ, (b) ajuster l'échantillon aux conditions appropriées à une incandescence induite par laser, (c) mesurer l'échantillon ajusté au moyen de l'incandescence induite par laser, et corréler les mesures obtenues par l'incandescence induite par laser avec la finesse particulaire du moment. Cette invention a également trait à un procédé d'échantillonnage et de contrôle d'un processus reposant sur des procédés en temps réel, en ligne, in situ destinés à échantillonner et à mesurer des particules. L'échantillonnage peut consister à tirer un flux latéral d'une source de particules. L'ajustement de l'échantillon aux conditions appropriées à une incandescence induite par laser peut reposer sur la dilution de l'échantillon ou le réglage de la température aux conditions ambiantes. La corrélation peut comprendre une fonction de corrélation déterminée par la comparaison des mesures obtenues par l'incandescence induite par laser et des mesures de la finesse en laboratoire pour des échantillons particulaires tirés au même moment.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
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European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
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Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)