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1. (WO2004008162) COMPENSATION FOR TEST SIGNAL DEGRADATION DUE TO DUT FAULT
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2004/008162    International Application No.:    PCT/US2003/021678
Publication Date: 22.01.2004 International Filing Date: 09.07.2003
IPC:
G01R 31/317 (2006.01), G01R 31/319 (2006.01)
Applicants: FORMFACTOR, INC. [US/US]; 2140 Research Drive, Livermore, CA 94550 (US)
Inventors: MILLER, Charles, A.; (US)
Agent: MERKADEAU, Stuart, L.; Formfactor, Inc., 2140 Research Drive, Livermore, CA 94550 (US)
Priority Data:
10/193,831 12.07.2002 US
Title (EN) COMPENSATION FOR TEST SIGNAL DEGRADATION DUE TO DUT FAULT
(FR) COMPENSATION DE LA DEGRADATION DE SIGNAUX D'ESSAI CAUSEE PAR UNE DEFAILLANCE D'UN DISPOSITIF A L'ESSAI
Abstract: front page image
(EN)An electronic device tester channel transmits a single test signal to multiple terminals of electronic devices under test (DUTs) through a set of isolation resistors. The tester channel employs feedback to automatically adjust the test signal voltage to compensate for affects of faults at any of the DUT terminals to prevent the faults from substantially affecting the test signal voltage.
(FR)Selon la présente invention, un canal de testeur d'un dispositif électronique permet de transmettre un seul signal d'essai à plusieurs terminaux de dispositifs électroniques à l'essai par le biais d'une série de résistances d'isolation. Le canal du testeur utilise une rétroaction pour ajuster automatiquement la tension du signal d'essai afin de compenser les effets des défaillances au niveau d'un des terminaux des dispositifs électroniques à l'essai, de manière à empêcher les défaillances d'affecter sensiblement la tension du signal d'essai.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)