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1. (WO2004008121) LASER TWEEZERS AND RAMAN SPECTROSCOPY SYSTEMS AND METHODS FOR STUDYING MICROSCOPIC PARTICLES
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2004/008121    International Application No.:    PCT/US2003/022700
Publication Date: 22.01.2004 International Filing Date: 16.07.2003
IPC:
G01J 3/44 (2006.01), G01N 21/65 (2006.01), G21K 1/00 (2006.01)
Applicants: EAST CAROLINA UNIVERSITY [US/US]; 210 Spilman Building, Greenville, NC 27858-4353 (US) (For All Designated States Except US).
LI, Yong-quing [CN/US]; (US) (For US Only).
DINNO, Mumtaz, A. [US/US]; (US) (For US Only)
Inventors: LI, Yong-quing; (US).
DINNO, Mumtaz, A.; (US)
Agent: KELLEY, Laura, M.; Myers Bigel Sibley & Sajovec, P.O. Box 37428, Raleigh, NC 27526 (US)
Priority Data:
10/196,649 16.07.2002 US
Title (EN) LASER TWEEZERS AND RAMAN SPECTROSCOPY SYSTEMS AND METHODS FOR STUDYING MICROSCOPIC PARTICLES
(FR) SYSTEMES ET PROCEDES DE PINCES LASER ET DE SPECTROSCOPIE RAMAN POUR L'ETUDE DE PARTICULES MICROSCOPIQUES
Abstract: front page image
(EN)Methods and systems for studying microscopic particles are provided. An optical trap for a selected microscopic particle is formed with a laser beam at a first power level. The laser beam can have a variable power level associated therewith. The variable power level can be increased to a second power level. The second power level provided sufficient excitation energy to the selected microscopic particle to produce Ramanscattering signals. A Raman spectrum is detected from the Raman scattering signals produced by the laser beam at the second power level. This incident laser beam and/or the Raman scattering signals may be focused by confocal apertures. Non-transparent or metallic particles may be trapped by focusing the laser beam near the distal side of the selected particle to the laser source. In this case the trapping laser beam may have the same power level as the exciting laser beam or a lower power level than the exciting laser beam.
(FR)Procédés et systèmes pour l'étude de particules microscopiques. Un piège optique destiné à une particule microscopique sélectionnée peut être formé à l'aide d'un faisceau laser à un premier niveau de puissance. Le faisceau laser peut présenter un niveau de puissance variable associé. Le niveau de puissance variable peut être augmenté à un deuxième niveau de puissance. Le faisceau laser au deuxième niveau de puissance peut produire des signaux de diffusion Raman. Le deuxième niveau de puissance peut fournir à la particule microscopique sélectionnée une énergie d'excitation suffisante pour produire des signaux de diffusion Raman ; ce deuxième niveau est supérieur au premier niveau de puissance. Un spectre Raman peut être détecté à partir des signaux de diffusion Raman produits par le faisceau laser au deuxième niveau de puissance.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)