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1. (WO2004005905) X-RAY INSPECTION BY COHERENT-SCATTERING FROM VARIABLY DISPOSED SCATTERERS IDENTIFIED AS SUSPECT OBJECTS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2004/005905    International Application No.:    PCT/US2003/021199
Publication Date: 15.01.2004 International Filing Date: 07.07.2003
IPC:
G01N 23/20 (2006.01)
Applicants: AMERICAN SCIENCE AND ENGINEERING, INC. [US/US]; 829 Middlesex Turnpike, Billerica, MA 01821 (US)
Inventors: GRODZINS, Lee; (US).
ADAMS, William; (US).
ROTHSCHILD, Peter; (US)
Agent: PETUCHOWSKI, Samuel, J.; Bromberg & Sunstein LLP, 125 Summer Street, Boston, MA 02110-1618 (US)
Priority Data:
10/190,903 08.07.2002 US
Title (EN) X-RAY INSPECTION BY COHERENT-SCATTERING FROM VARIABLY DISPOSED SCATTERERS IDENTIFIED AS SUSPECT OBJECTS
(FR) RADIOGRAPHIE PAR DIFFUSION COHERENTE DE DIFFUSEURS DISPOSES DE FAÇON VARIABLE IDENTIFIES COMME OBJETS SUSPECTS
Abstract: front page image
(EN)A system and method for inspecting an object. The system has a source for generating a penetrating radiation beam for irradiating the object and at least one detector for detecting the beam after the beam interacts with the object. Furthermore, the system has an aperture interposed between the source and the object, the aperture characterized by a cross-sectional dimension, and the cross-sectional dimension capable of variation on a periodic basis during the course of inspecting the object such that high resolution is obtained for regions of object characterized by lower opacity while penetration is achieved at lower spatial resolution for regions of more substantial opacity.
(FR)L'invention concerne un système et un procédé permettant d'inspecter un objet. Ce système comprend une source qui permet de générer un faisceau de rayonnement pénétrant servant à irradier l'objet et au moins un détecteur servant à détecter le faisceau une fois que ce dernier a interagi avec l'objet. De plus, le système comprend une ouverture interposée entre la source et l'objet, l'ouverture étant caractérisée par une dimension transversale pouvant varier sur une base périodique pendant le déroulement de l'inspection de l'objet, ce qui permet d'obtenir une résolution élevée pour des régions de l'objet caractérisées par une plus faible opacité et à parvenir à une pénétration à une résolution spatiale moindre pour des régions présentant une opacité plus importante.
Designated States: JP.
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PT, RO, SE, SI, SK, TR).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)