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1. (WO2004003576) CELL BUFFER WITH BUILT-IN TEST
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2004/003576    International Application No.:    PCT/US2003/020801
Publication Date: 08.01.2004 International Filing Date: 30.06.2003
IPC:
G01R 31/36 (2006.01)
Applicants: HONEYWELL INTERNATIONAL INC. [US/US]; 101 Columbia Road, P.O. Box 2245, Morristown, NJ 07960 (US)
Inventors: OTT, William, E.; (US)
Agent: CRISS, Roger, H.; Honeywell International Inc., 101 Columbia Road, P.O. Box 2245, Morristown, NJ 07960 (US)
Priority Data:
10/186,517 01.07.2002 US
Title (EN) CELL BUFFER WITH BUILT-IN TEST
(FR) TAMPON DE CELLULE A TEST INTEGRE
Abstract: front page image
(EN)A cell buffer with built-in testing mechanism is provided. The cell buffer provides the ability to measure voltage provided by a power cell. The testing mechanism provides the ability to test whether the cell buffer is functioning properly and thus providing an accurate voltage measurement. The testing mechanism includes a test signal provider to provide a test signal to the cell buffer. During normal operation, the test signal is disabled and the cell buffer operates normally. During testing, the test signal is enabled and changes the output of the cell buffer in a defined way. The change in the cell buffer output can then be monitored to determine if the cell buffer is functioning correctly. Specifically, if the voltage output of the cell buffer changes in a way that corresponds to the provided test signal, then the functioning of the cell buffer is confirmed. If the voltage output of the cell buffer does not change correctly, then the cell buffer is known not to be operating correctly. Thus, the built in testing mechanism provides the ability to quickly and accurately determine if the cell buffer is operating correctly. Furthermore, the testing mechanism provides this functionality without requiring excessive device size and complexity.
(FR)L'invention concerne un tampon de cellule comprenant un mécanisme de test intégré. Ce tampon de cellule permet de mesurer la tension fournie par une cellule d'alimentation. Le mécanisme de test permet de tester si le tampon de cellule fonctionne correctement et, de ce fait, si la mesure de tension fournie est précise. Ce mécanisme de test comprend un fournisseur de signal de test destiné à fournir un signal de test au tampon de cellule. En fonctionnement normal, le signal de test est désactivé et le tampon de cellule fonctionne normalement. Pendant le test, le signal de test est activé et modifie la sortie du tampon de cellule de façon définie. Le changement dans la sortie de tampon de cellule peut ensuite être contrôlé afin de déterminer si le tampon de cellule fonctionne correctement. En particulier, si la sortie de tension du tampon de cellule est modifiée de façon à correspondre avec le signal de test fourni, le fonctionnement du tampon de cellule est alors confirmé. Si la sortie de tension du tampon de cellule n'est pas modifiée correctement, on sait alors que le tampon de cellule ne fonctionne pas correctement. Le mécanisme de test intégré permet ainsi de déterminer rapidement et précisément si le tampon de cellule fonctionne correctement. En outre, ledit mécanisme de test assure cette fonction sans toutefois exiger une taille et une complexité de dispositif excessives.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, OM, PH, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SK, SL, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)