WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO2004003572) METHODS AND APPARATUS FOR TEST PROCESS ENHANCEMENT
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2004/003572    International Application No.:    PCT/US2003/020469
Publication Date: 08.01.2004 International Filing Date: 27.06.2003
Chapter 2 Demand Filed:    28.01.2004    
IPC:
G01R 31/317 (2006.01)
Applicants: TEST ADVANTAGE, INC. [US/US]; 1525 West Tenth Place Tempe, AZ 85281 (US) (For All Designated States Except US).
GORIN, Jacky [FR/US]; (US) (For US Only)
Inventors: GORIN, Jacky; (US)
Agent: NOBLITT, Daniel, J.; Law Offices of Daniel J. Noblitt, LLC, 3370 North Hayden Road, Suite 123, Box 258, Scottsdale, AZ 85251 (US)
Priority Data:
60/392,196 28.06.2002 US
10/401,495 28.03.2003 US
Title (EN) METHODS AND APPARATUS FOR TEST PROCESS ENHANCEMENT
(FR) PROCEDES PERMETTANT D'AMELIORER UN PROCESSUS D'ESSAI ET APPAREIL A CET EFFET
Abstract: front page image
(EN)A method and apparatus for enhancing a test process according to the present invention includes analyzing test data and generating recommendations for enhancing the test process. Generally, an exemplary test system comprises an analyzing system for analyzing test data generated by the test process and a recommendation system for recommending enhancements to the test process based on the analysis. The exemplary system is configured to generate characteristic values, such as process control statistics, based on raw test data (318). The method and apparatus may also analyze test data that has been filtered (322) to remove selected types of data. Further, the analysis may classify the various tests according to the characteristic values and identify correlations (316) between various tests based on at least one of the raw test data and the filtered test data. The recommendation system (324) suitably recommends enhancements according to the classification of the tests. The tests may be modified accordingly.
(FR)Ce procédé, et l'appareil correspondant, permettant d'améliorer un processus d'essai, d'après les différents aspects de l'invention, consiste à analyser des données d'essai et à formuler des recommandation visant à cette amélioration. En règle générale, un système d'essai donné à titre d'exemple comprend un mécanisme d'analyse servant à analyser les données d'essai produite par le processus d'essai et un mécanisme générant des recommandations recommandant des améliorations concernant le processus d'essai reposant sur cette analyse. Ce système est configuré pour générer des valeurs caractéristiques, notamment des statistiques de commande d'essai basées sur les données brutes d'essai. Dans le cadre de ce procédé, l'appareil peut également analyser des données d'essai ayant été filtrées pour extraire des types de données sélectionnées, comme des données relatives à des valeurs aberrantes, à des défaillances et/ou des données manquantes. En outre, cette analyse permet de classer les différents essais d'après les valeurs caractéristiques et d'identifier des corrélations existant entre les différents essais d'après l'une au moins des données brutes et des données filtrées. Le mécanisme de recommandation recommande, à propos, des améliorations en fonction du classement des essais, ce qui permet de modifier les essais en conséquence.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, OM, PH, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SK, SL, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)