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1. (WO2003077149) SYSTEM AND METHOD FOR LEAK RATE TESTING DURING ADIABATIC COOLING
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2003/077149    International Application No.:    PCT/US2003/006886
Publication Date: 18.09.2003 International Filing Date: 05.03.2003
IPC:
G01M 3/00 (2006.01), G01M 3/32 (2006.01)
Applicants: USON, L.L.P. [US/US]; 5215 Hollister Houston, TX 77040 (US) (For All Designated States Except US).
RUTHERFORD, James, M. [US/US]; (US) (For US Only).
EKBLAD, Mark, K. [US/US]; (US) (For US Only)
Inventors: RUTHERFORD, James, M.; (US).
EKBLAD, Mark, K.; (US)
Agent: ROURK, Christopher, J.; Akin Gump Strauss Hauer & Feld, LLP P.O. Box 688 Dallas, TX 75313-0688 (US)
Priority Data:
10/087,729 05.03.2002 US
Title (EN) SYSTEM AND METHOD FOR LEAK RATE TESTING DURING ADIABATIC COOLING
(FR) SYSTEME ET PROCEDE DE DETERMINATION DU TAUX DE FUITE DANS UN PROCESSUS DE REFROIDISSEMENT ADIABATIQUE
Abstract: front page image
(EN)A system for determining a leak rate of a device during an adiabatic cooling phase (Fig. 6) is provided. The system includes a leak rate training system (116) receiving leak rate calibration data, such as pressure data or mass flow data for a device having a known leakage rate. The leak rate training system generates an adiabatic cooling model (600) from the leak rate calibration data, such as by solving a finite differente equation for one or more unknown process variables that are dependent on the adiabatic cooling parameters of the device. The system further includes a leak rate detection system (700) receiving the adiabatic cooling model and leak rate data and determining a leak rate component of the leak rate data using the adiabatic cooling model, such as by using the variable values determined through solving the finite difference model to interpolate between the leak rate calibration data that was gathered using known leakage rates.
(FR)L'invention concerne un système de détermination du taux de fuite d'un dispositif au cours d'une phase de refroidissement adiabatique. Ce système comprend un système de formation de taux de fuite (116) qui reçoit des données d'étalonnage de taux de fuite, telles que les données de pression ou les données de débit massique, pour un dispositif présentant un taux de fuite connu. Sur la base des données d'étalonnage de taux de fuite, le système de formation de taux de fuite produit un modèle de refroidissement adiabatique (600), en résolvant par exemple une équation en différences finies pour une ou plusieurs variables de traitement inconnues qui sont dépendantes des paramètres de refroidissement adiabatiques du dispositif. Par ailleurs, ce système comprend un système de détection de taux de fuite (700) qui, après avoir reçu le modèle de refroidissement adiabatique ainsi que les données de taux de fuite, détermine la composante de taux de fuite des données de taux de fuite sur la base du modèle de refroidissement adiabatique en utilisant par exemple les valeurs variables déterminées par la résolution du modèle en différences finies pour interpoler entre les données d'étalonnage de taux de fuite réunies grâce aux taux de fuite connus.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, OM, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)