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1. (WO2003076961) TEST CIRCUIT AND TEST METHOD FOR A PULSE DOPPLER RADAR SENSOR
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2003/076961    International Application No.:    PCT/US2003/006654
Publication Date: 18.09.2003 International Filing Date: 05.03.2003
IPC:
G01S 7/40 (2006.01)
Applicants: M/A-COM, INC. [US/US]; 1011 Pawtucket Blvd., Lowell, MA 01853 (US)
Inventors: DOUGLAS, Allan, Scott; (US).
VOLCKMAN, Peter, Anthony; (GB)
Agent: TESSARI, Joseph, A.; Tyco Technology Resources, 4550 New Linden Hill Road, Suite 140, Wilmington, DE 19808 (US)
Priority Data:
10/091,786 06.03.2002 US
Title (EN) TEST CIRCUIT AND TEST METHOD FOR A PULSE DOPPLER RADAR SENSOR
(FR) CIRCUIT DE TEST ET PROCEDE DE TEST POUR UN DETECTEUR A RADAR DOPPLER PULSE
Abstract: front page image
(EN)A method for testing a pulse Doppler radar sensor circuit comprising at least one antenna, and a switch circuit, comprising the steps of 1) configuring said switch circuit such that a first path between an input terminal and a first output terminal and a second path between an input terminal and a second output terminal introduce different phase delays to an input signal; 2) providing an input signal to the switch circuit at said input terminal; and 3) comparing a signal at the first output terminal and a signal at the second output terminal to determine if the sensor circuit is functioning.
(FR)La présente invention concerne un procédé permettant de tester un circuit de détecteur à radar doppler pulsé comprenant au moins une antenne et un circuit de commutation. Selon ce procédé, on commence 1) par configurer le circuit de commutation de façon qu'un premier trajet entre une borne d'entrée et une première borne de sortie, et qu'un deuxième trajet entre une borne d'entrée et une deuxième borne de sortie introduisent dans un signal d'entrée des déphasages différenciés. Ensuite, 2) on fournit un signal d'entrée au circuit de commutation par cette borne d'entrée. Enfin, 3) on compare un signal à la première borne de sortie à un signal à la deuxième borne de sortie de façon à déterminer si le circuit de détection fonctionne.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, OM, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)