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1. (WO2003075408) ANISOTROPIC CONDUCTIVE CONNECTOR AND ITS PRODUCTION METHOD, AND CIRCUIT DEVICE TEST INSTRUMENT
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2003/075408    International Application No.:    PCT/JP2003/002205
Publication Date: 12.09.2003 International Filing Date: 27.02.2003
Chapter 2 Demand Filed:    24.07.2003    
IPC:
G01R 1/04 (2006.01), G01R 1/073 (2006.01), H01R 4/04 (2006.01), H01R 13/24 (2006.01), H01R 43/00 (2006.01)
Applicants: JSR CORPORATION [JP/JP]; 6-10, Tsukiji 5-chome, Chuo-ku, Tokyo 104-0045 (JP) (For All Designated States Except US).
YAMADA, Daisuke [JP/JP]; (JP) (For US Only).
MAYUMI, Kazuaki [JP/JP]; (JP) (For US Only).
KIMURA, Kiyoshi [JP/JP]; (JP) (For US Only)
Inventors: YAMADA, Daisuke; (JP).
MAYUMI, Kazuaki; (JP).
KIMURA, Kiyoshi; (JP)
Agent: OHI, Masahiko; Eishin Bldg., 6-1, Kanda Ogawa-machi 3-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 101-0052 (JP)
Priority Data:
2002/62666 07.03.2002 JP
2002/152316 27.05.2002 JP
Title (EN) ANISOTROPIC CONDUCTIVE CONNECTOR AND ITS PRODUCTION METHOD, AND CIRCUIT DEVICE TEST INSTRUMENT
(FR) CONNECTEUR CONDUCTEUR ANISOTROPE, SON PROCEDE DE FABRICATION ET INSTRUMENT SERVANT A TESTER UN CIRCUIT
Abstract: front page image
(EN)An anisotropic conductive connector not permanently deforming because of press contact with the electrode to be connected even if the electrode has a projecting shape, not deforming because of wear, and exhibiting a stable conductivity over a long time even after repetitive press, its production method, and circuit device test instrument with this anisotropic conductive connector. The anisotropic conductive connector has an anisotropic conductive film where conductive path forming parts extending in the direction of the thickness of the film and insulated by an insulating part are provided. The anisotropic conductive film is composed of at least two elastic layers made of insulating elastic polymer materials. The portions of each elastic layer where conductive path forming parts are formed contain conductive particles exhibiting magnetism. The elastic polymer materials of the elastic layers constituting the surface of the anisotropic conductive film satisfy the relations H1≥30 and H1/H2≥1.1 Where H1 is the dulometer hardness of the elastic polymer material of one of the elastic layers, and H2 is the dulometer hardness of the other.
(FR)Connecteur conducteur anisotrope ne subissant ni déformation permanente sous l'effet du contact de pression avec l'électrode à raccorder, même si cette électrode présente une forme saillante, ni déformation d'usure et présentant une conductivité stable sur une durée prolongée, même après une pression répétitive; son procédé de fabrication; instrument servant à tester un circuit et intégrant ce connecteur anisotrope. Ce dernier possède une couche conductrice anisotrope dans laquelle des parties créant un trajet conducteur s'étendent dans le sens de l'épaisseur de la couche et sont isolées par une partie isolante. Cette couche conductrice anisotrope est composée d'au moins deux couches élastiques en matériaux polymères élastiques isolants. Les parties de chaque couche élastique présentant des segments créant un trajet conducteur, contiennent des particules conductrices magnétiques. Les matériaux polymères élastiques de ces couches élastiques constituant la surface de la couche conductrice anisotrope répondent aux équations suivantes: H1$m(G)30 et H1/H2$m(G)1,1 dans lesquelles H1 représente la dureté (rivage A) du matériau polymère élastique de l'une des couches élastiques et H2 représente la dureté (rivage B) de l'autre couche.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, OM, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)