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1. (WO2003073457) MINIATURIZED SYSTEM AND METHOD FOR MEASURING OPTICAL CHARACTERISTICS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2003/073457    International Application No.:    PCT/US2003/005310
Publication Date: 04.09.2003 International Filing Date: 21.02.2003
Chapter 2 Demand Filed:    18.09.2003    
IPC:
G01J 3/02 (2006.01), G01J 3/36 (2006.01), G01J 3/51 (2006.01)
Applicants: LJ LABORATORIES LLC [US/US]; 1550 N. Lake Shore Drive No. 16C, Chicago, IL 60610 (US) (For All Designated States Except US).
JUNG, Wayne, D. [US/US]; (US) (For US Only).
JUNG, Russell, W. [US/US]; (US) (For US Only).
SLOAN, Walter, W. [US/US]; (US) (For US Only).
LOUDERMILK, Alan, R. [US/US]; (US) (For US Only)
Inventors: JUNG, Wayne, D.; (US).
JUNG, Russell, W.; (US).
SLOAN, Walter, W.; (US).
LOUDERMILK, Alan, R.; (US)
Agent: LOUDERMILK, Alan, R.; Loudermilk + Associates, PO Box 3607, Los Altos, CA 94024-0607 (US)
Priority Data:
10/081,879 21.02.2002 US
Title (EN) MINIATURIZED SYSTEM AND METHOD FOR MEASURING OPTICAL CHARACTERISTICS
(FR) SYSTEME MINIATURISE PERMETTANT DE MESURER DES CARACTERISTIQUES OPTIQUES ET PROCEDE AFFERENT
Abstract: front page image
(EN)A miniaturized spectrometer/spectrophotometer system and methods are disclosed. A probe tip (10) including one or more light sources and a plurality of light receivers (12) is provided. A first spectrometer system (6A) receives light from a first set of the plurality of light receivers. A second spectrometer system (6B) receives light from a second set of the plurality of light receivers. A processor, wherein the processor receives data generated by the first spectrometer system and the second spectrometer system, wherein an optical measurement of a sample under test is produced based on the data generated by the first and second spectrometer systems.
(FR)Cette invention a trait un système de spectrométrie/spectrophotomètre miniaturisé ainsi qu'au procédé afférent. Le système comprend une tête de sonde équipée d'une ou de plusieurs sources lumineuses ainsi que de plusieurs récepteurs de lumière. Un premier système de spectrométrie reçoit de la lumière émanant d'un premier ensemble de récepteurs de lumière tandis qu'un second système de spectrométrie reçoit de la lumière émanant d'un second ensemble de récepteurs de lumière. Le système est également pourvu d'un processeur, recevant des données produites par les deux systèmes de spectrométrie. Une mesure optique d'un échantillon en cours d'épreuve est réalisée d'après les données produites par les deux systèmes de spectrométrie.
Designated States: AU, BR, CA, CH, CN, IL, IN, JP, KR, MX, NO, NZ, PL, RU, SE, SG, US.
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, SI, SK, TR).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)