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1. (WO2003060568) OPTIMIZATION OF ABLATION CORRECTION OF AN OPTICAL SYSTEM AND ASSOCIATED METHODS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2003/060568    International Application No.:    PCT/US2003/000515
Publication Date: 24.07.2003 International Filing Date: 08.01.2003
Chapter 2 Demand Filed:    12.06.2003    
IPC:
A61B 3/103 (2006.01), A61F 9/01 (2006.01)
Applicants: ALCON, INC. [CH/CH]; Bosch 69, P.O. Box 62, CH-6331 Hunenberg (CH) (For All Designated States Except US).
CAMPIN, John, Alfred [US/US]; (US) (For US Only).
PETTIT, George, H. [US/US]; (US) (For US Only)
Inventors: CAMPIN, John, Alfred; (US).
PETTIT, George, H.; (US)
Agent: SCHIRA, Jeffrey, S.; Alcon Research, Ltd., 6201 S. Freeway, Q-148, Fort Worth, TX 76134-2099 (US)
Priority Data:
60/348,586 14.01.2002 US
10/238,919 10.09.2002 US
Title (EN) OPTIMIZATION OF ABLATION CORRECTION OF AN OPTICAL SYSTEM AND ASSOCIATED METHODS
(FR) OPTIMISATION DE CORRECTION PAR ABLATION DE SYSTEME OPTIQUE ET PROCEDES ASSOCIES
Abstract: front page image
(EN)A system (10) and method for converting measured wavefront data into an ablation profile for correcting visual defects includes providing measured wavefront (24) data on an aberrated eye by a method such as known in the art. The measured wavefront data (701) are correlated with accumulated data on previously treated eyes. Next an adjustment is applied to the measured wavefront data based upon the correlating step (707). This adjustment is used to form adjusted wavefront data (708) for input to a wavefront data correction algorithm to calculate an ablation profile (709) therefrom. The wavefront data correction algorithm may be modeled as, for example, Zemike polynomials with adjusted coefficients.
(FR)La présente invention concerne un système et un procédé permettant de convertir des données de front d'ondes mesurées en un profil d'ablation de manière à corriger des défauts visuels. Ledit procédé consiste à utiliser des données de front d'ondes mesurées sur un oeil présentant une aberration au moyen d'un procédé connu. Les données de front d'ondes mesurées sont corrélées avec des données accumulées sur des yeux préalablement traités. Ensuite, un ajustement est appliqué sur les données de front d'onde mesurées en fonction l'étape de corrélation. Ledit ajustement est utilisé pour former des données de front d'ondes ajustées destinées à être entrées dans un algorithme de correction des données de front d'ondes afin de calculer un profil d'ablation. L'algorithme de correction des données de front d'ondes peut être modélisé sous forme, par exemple, de polynômes de Zernike à coefficients ajustés.
Designated States: AU, BR, CA, JP, MX, US.
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, SI, SK, TR).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)