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1. (WO2003060530) PROBE FOR ELECTRICAL MEASUREMENT METHODS AND USE OF A FLEXIBLE PROBE FOR PRODUCTION OF A RIGID PROBE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2003/060530    International Application No.:    PCT/EP2002/014738
Publication Date: 24.07.2003 International Filing Date: 23.12.2002
Chapter 2 Demand Filed:    24.06.2003    
IPC:
G01N 27/90 (2006.01), G01R 1/073 (2006.01)
Applicants: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT [DE/DE]; Wittelsbacherplatz 2, 80333 München (DE) (For All Designated States Except US).
BÄR, Ludwig [DE/DE]; (DE) (For US Only).
HEINRICH, Werner [DE/DE]; (DE) (For US Only)
Inventors: BÄR, Ludwig; (DE).
HEINRICH, Werner; (DE)
Common
Representative:
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT; Postfach 22 16 34, 80506 München (DE)
Priority Data:
02001268.8 17.01.2002 EP
Title (DE) SONDE FÜR ELEKTRISCHE MESSVERFAHREN UND VERWENDUNG EINER FLEXIBLEN SONDE ZUR HERSTELLUNG EINER UNFLEXIBLEN SONDE
(EN) PROBE FOR ELECTRICAL MEASUREMENT METHODS AND USE OF A FLEXIBLE PROBE FOR PRODUCTION OF A RIGID PROBE
(FR) SONDE POUR PROCEDES DE MESURE ELECTRIQUE ET UTILISATION D'UNE SONDE FLEXIBLE POUR PRODUIRE UNE SONDE NON FLEXIBLE
Abstract: front page image
(DE)Sonden nach dem Stand der Technik weisen ein Substrat auf, das mechanisch starr ist. So können nur ebene Flächen mit der Sonde abgefahren werden. Eine erfindungsgemäße Sonde (1) ist durch ein flexibles Substrat (16) flexibel gestaltet, so dass sich die Sonde (1) verschiedenen Krümmungsradien eines Prüfkörpers (10) anpassen kann.
(EN)The invention relates to a probe for electrical measurements and use of a flexible probe to produce an inflexible probe. Conventional probes comprise a substrate which is mechanically rigid. As a result only planar surfaces may be examined with the probe. According to the invention, a probe (1) is flexibly embodied by means of a flexible substrate (16) such that the probe (1) may be adjusted to match various curvature radii of test bodies (10).
(FR)L'invention concerne une sonde pour procédés de mesure électriques et l'utilisation d'une sonde flexible pour produire une sonde non flexible. Des sondes selon l'état de la technique présentent un substrat mécaniquement rigide. Ce type de sonde ne permet d'examiner que des surfaces planes. La sonde (1) selon l'invention se présente de manière flexible, avec un substrat flexible, de sorte que ladite sonde (1) puisse s'adapter à différents rayons de courbure d'un corps-échantillon (10).
Designated States: CN, JP, US.
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, SI, SK, TR).
Publication Language: German (DE)
Filing Language: German (DE)