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1. (WO2003056501) METHODS AND APPARATUS FOR FACE RECOGNITION
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2003/056501    International Application No.:    PCT/IB2002/005393
Publication Date: 10.07.2003 International Filing Date: 12.12.2002
IPC:
G06K 9/00 (2006.01)
Applicants: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V. [NL/NL]; Groenewoudseweg 1, NL-5621 BA Eindhoven (NL)
Inventors: LI, Dongge; (NL).
DIMITROVA, Nevenka; (NL)
Agent: GROENENDAAL, Antonius, W., M.; Internationaal Octrooibureau B.V., Prof. Holstlaan 6, NL-5656 AA Eindhoven (NL)
Priority Data:
10/034,659 28.12.2001 US
Title (EN) METHODS AND APPARATUS FOR FACE RECOGNITION
(FR) PROCEDES ET APPAREIL DE RECONNAISSANCE FACIALE
Abstract: front page image
(EN)A processing system is provided that detects an object of interest. The system receives an input image of the object. At least one feature is extracted from the input image. The extracted feature is then used to determine a set of candidate models by filtering out image models that do not contain the extracted feature. A sample image template is then formed based on a candidate sample image. The object of interest is then detected by comparing the input image to the sample image template. In a preferred embodiment, the formation of the template further includes calculating a parameter, such as direction, expression, articulation or lighting, of the object.
(FR)L'invention concerne un système de traitement conçu pour détecter un objet recherché. Ce système reçoit une image d'entrée d'un objet. Au moins une caractéristique est extraite de l'image d'entrée. La caractéristique extraite sert ensuite à déterminer un ensemble de modèles candidats par filtrage de modèles d'image ne contenant pas la caractéristique extraite. Un modèle de référence d'image échantillon est ensuite formé en fonction d'une image échantillon du modèle de référence. L'objet recherché est ensuite détecté par comparaison de l'image d'entrée avec le modèle de référence d'image échantillon. Dans un mode de réalisation préféré, la formation dudit modèle de référence consiste en outre à calculer un paramètre, de type sens, expression, articulation ou éclairage, dudit objet.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, OM, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)