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1. (WO2003008952) NONDESTRUCTIVE ANALYSIS METHOD AND NONDESTRUCTIVE ANALYSIS DEVICE AND SPECIFIC OBJECT BY THE METHOD/DEVICE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2003/008952    International Application No.:    PCT/JP2002/006595
Publication Date: 30.01.2003 International Filing Date: 28.06.2002
Chapter 2 Demand Filed:    27.12.2002    
IPC:
G01N 23/04 (2006.01), G01N 23/207 (2006.01)
Applicants: ANDO, Masami [JP/JP]; (JP)
Inventors: ANDO, Masami; (JP)
Agent: OKAZAKI, Kenshu; 6F, Mani-Building, 37-10, Udagawa-cho, Shibuya-ku, Tokyo 150-0042 (JP)
Priority Data:
2001-211221 11.07.2001 JP
2002-58053 04.03.2002 JP
2002-186332 26.06.2002 JP
Title (EN) NONDESTRUCTIVE ANALYSIS METHOD AND NONDESTRUCTIVE ANALYSIS DEVICE AND SPECIFIC OBJECT BY THE METHOD/DEVICE
(FR) PROCEDE ET DISPOSITIF D'ANALYSE NON DESTRUCTIVE ET OBJET SPECIFIQUE SOUMIS A CE PROCEDE
Abstract: front page image
(EN)Novel nondestructive analysis method and nondestructive analysis device capable of providing a high-contrast image within an object easily and in one go by setting, when an object (2) is irradiated with homogenous, parallel X-rays (1) to beam a refraction X-ray (3) from the object (2) onto a transmitting crystal analysis element (4a), and the refraction X-ray (3) is separated spectrally into a front-direction refraction X-ray (41a) and a refraction-direction refraction X-ray (42a) by the dynamic refracting action of the transmitting crystal analysis element (4a), the thickness of the transmitting crystal analysis element (4a) to such one that, when no object is present, the intensity of either one of the front-direction refraction X-ray (41a) and the refraction-direction refraction X-ray (42a) is almost zero in comparison with the intensity of the other at the intensity of an X-ray little affected by a directly beamed X-ray.
(FR)Nouveaux procédé et dispositif d'analyse non destructive capables de fournir facilement une image à contraste élevé de l'intérieur d'un objet et en une seule fois en ajustant, lorsqu'un objet (2) est exposé à des rayons X (1) homogènes parallèles pour que ledit objet (2) renvoie un rayon X (3) de réfraction sur un élément d'analyse à cristal émetteur (4a), et que le rayon X (3) de réfraction est spectralement séparé en un rayon X de réfraction (41a) à sens avant et en un rayon X de réfraction (42a) à sens de réfraction par l'action de réfraction dynamique de l'élément d'analyse à cristal émetteur (4a), l'épaisseur de l'élément d'analyse à cristal émetteur (4a) de manière que lorsqu'aucun objet n'est présent, l'intensité du rayon X de réfraction (41a) à sens avant ou du rayon X de réfraction (42a) à sens de réfraction est pratiquement égale à zéro par comparaison à l'intensité de l'autre, à l'intensité d'un rayon X peu affectée par un rayon X directement envoyé.
Designated States: AU, CA, CN, IN, KR, SG, US.
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, TR).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)