WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO2003008903) METHOD AND DEVICE FOR SEISMIC SURVEILLANCE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2003/008903    International Application No.:    PCT/FR2002/002557
Publication Date: 30.01.2003 International Filing Date: 18.07.2002
IPC:
G01B 11/16 (2006.01), G01V 1/00 (2006.01)
Applicants: OSMOS SA [FR/FR]; 44-46, rue de la Bienfaisance F-75008 Paris (FR) (For All Designated States Except US).
HODAC, Bernard [FR/FR]; (FR) (For US Only)
Inventors: HODAC, Bernard; (FR)
Agent: PONTET, Bernard; Pontet Allano & Associes Selarl 25, rue Jean Rostand Parc Club Orsay Université F-91893 Orsay Cedex (FR)
Priority Data:
01/09587 18.07.2001 FR
Title (EN) METHOD AND DEVICE FOR SEISMIC SURVEILLANCE
(FR) PROCEDE ET DISPOSITIF DE VEILLE SISMIQUE
Abstract: front page image
(EN)The invention concerns a method and a device (1) for monitoring deformations of a sample of the earth crust (13), with several measurement lines (2) for instantaneously measuring deformations, coupled in deformation with the crust. The method consists in simultaneously analysing (10) the measured deformations and in deducing therefrom a modelling of the sample deformation and/or a modelling of stresses in the sample. Such a method and such a device enable to measure deformations among others of null frequency or of less than 0.1 Hertz and are particularly adapted to earthquake forecasting.
(FR)Procédé et dispositif 1 pour surveiller des déformations d'un échantillon de l'ecorce terrestre 13, grâce a plusieurs lignes de mesures 2 pour la mesure instantanée des déformations, couplées en déformation avec l'ecorce. Les déformations mesurées sont analysées simultanément 10 et l'on en déduit une modélisation de la déformation de l'echantillon et/ou une modélisation des contraintes dans l'echantillon. Un tel procédé et un tel dispositif permettent de mesurer des déformations entre autres de fréquence nul le ou inférieure a 0,1 Hertz et sont particulièrement adaptes a la prévision des séismes.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, OM, PH, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: French (FR)
Filing Language: French (FR)