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1. (WO2003001686) METHOD AND SYSTEM FOR CALIBRATING LOCATION SYSTEM
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.: WO/2003/001686 International Application No.: PCT/US2002/019329
Publication Date: 03.01.2003 International Filing Date: 20.06.2002
IPC:
G01S 5/06 (2006.01) ,G01S 19/11 (2010.01)
Applicants: HARRIS CORPORATION[US/US]; 1025 W. Nasa Blvd. Melbourne, FL 32919, US
Inventors: HOLT, Brian; US
Agent: YATSKO, Michael, S. ; Harris Corporation 1025 W. NASA Blvd. Melbourne, FL 32919, US
Priority Data:
09/891,10725.06.2001US
Title (EN) METHOD AND SYSTEM FOR CALIBRATING LOCATION SYSTEM
(FR) PROCEDE ET SYSTEME DE CALIBRAGE DE SYSTEMES DE LOCALISATION SANS FIL
Abstract: front page image
(EN) This invention relates to a method for calibrating a wireless location system (WLS) to enable the system to make highly accurate differential measurements such as time difference of arrival (TDOA) and frequency difference of arrival (FDOA). Calibration is accomplished by transmitting a signal from an unknown location and measuring at each of two receivers (75, 76) the parameter to be calibrated from that part of the received signal reflected or refracted from an object at a known location in the area. A differential measurement error is determined by comparing the expected difference in the parameter measurements with the actual difference in the parameter measurements. The expected difference is known, a priori, based on the locations of the receivers and the location of the object.
(FR) Cette invention se rapporte à un procédé de calibrage d'un système de localisation sans fil (WLS) afin que ce système puisse effectuer des mesures différentielles extrêmement précises telles que la différence entre les temps d'arrivée (TDOA) et la différence entre les fréquences d'arrivée (FDOA). Ce calibrage est effectué par la transmission d'un signal depuis un emplacement inconnu et par la mesure, au niveau de chacun des deux récepteurs, du paramètre à calibrer depuis cette partie du signal reçu réfléchi ou réfracté depuis un objet au niveau d'un emplacement connu dans la zone. Une erreur de mesure différentielle est déterminée grâce à la comparaison de la différence prévue dans les mesures du paramètre avec la différence réelle dans les mesures du paramètre. La différence prévue est connue, a priori, en fonction des emplacements des récepteurs et de l'emplacement de l'objet.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, OM, PH, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VN, YU, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Office (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (EPO) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)