Processing

Please wait...

Settings

Settings

Goto Application

1. WO2002056085 - ARRANGEMENT FOR THE FINE-FOCUSSING OF MICROSCOPES

Publication Number WO/2002/056085
Publication Date 18.07.2002
International Application No. PCT/EP2001/014917
International Filing Date 18.12.2001
IPC
G02B 21/22 2006.1
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
21Microscopes
18Arrangements with more than one light-path, e.g. for comparing two specimens
20Binocular arrangements
22Stereoscopic arrangements
G02B 21/24 2006.1
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
21Microscopes
24Base structure
CPC
G02B 21/22
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
21Microscopes
18Arrangements with more than one light path, e.g. for comparing two specimens
20Binocular arrangements
22Stereoscopic arrangements
G02B 21/241
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
21Microscopes
24Base structure
241Devices for focusing
Applicants
  • CARL ZEISS JENA GMBH [DE]/[DE] (AllExceptUS)
  • KNOBLICH, Johannes [DE]/[DE] (UsOnly)
  • KAUFHOLD, Tobias [DE]/[DE] (UsOnly)
  • WINTEROT, Johannes [DE]/[DE] (UsOnly)
Inventors
  • KNOBLICH, Johannes
  • KAUFHOLD, Tobias
  • WINTEROT, Johannes
Common Representative
  • CARL ZEISS JENA GMBH
Priority Data
101 01 624.716.01.2001DE
Publication Language German (de)
Filing Language German (DE)
Designated States
Title
(DE) ANORDNUNG ZUR SCHARFEINSTELLUNG FÜR MIKROSKOPE
(EN) ARRANGEMENT FOR THE FINE-FOCUSSING OF MICROSCOPES
(FR) DISPOSITIF DE FOCALISATION POUR MICROSCOPES
Abstract
(DE) Die Erfindung bezieht sich auf eine Anordnung zur Scharfeinstellung für Mikroskope für Mikroskope bevorzugt für Stereomikroskope, mit einem Antrieb für die Fokussierbewegung in Richtung der Koordinate Z sowie mit Mitteln zur Kontrolle der Scharfeinstellung auf mehrere verschiedene Positionen z1, z2 zn, die innerhalb eines Beobachtungsobjektes auf der Koordinate Z liegen. Es ist ein Wegmesssystem zur Ermittlung des Verstellweges $g(D)z bei Änderung der Scharfeinstellung von einer ersten ausgewählten Position z1 auf eine zweite ausgewählte Position z2 vorgesehen und weiterhin eine mit dem Wegmesssystem gekoppelte Anzeigeeinrichtung zur Darstellung der ausgewählten Position z1, z2 und/oder zur Darstellung einer Massangabe für den Verstellweg $g(D)z vorhanden. Die so mögliche objektive Beurteilung der Schärfe wird erfindungsgemäss zur Erhöhung der Genauigkeit bei der Tiefenmessung genutzt.
(EN) The invention relates to an arrangement for the fine-focussing of microscopes, preferably of stereo-microscopes, with a drive for the focussing movement in the Z co-ordinate direction and with means of controlling the fine-focussing at several different positions, z1, z2 zn, lying within an observation object on the Z co-ordinate. A path measurement system is provided to determine the adjustment path $g(D)z on changing the fine focus, from a first selected position z1 to a second selected position z2 and, furthermore, a display device for displaying the selected positions z1, z2 and/or for displaying a scale for the adjustment path $g(D)z is provided. According to the invention, the determination of focus as objectively as possible is used for increasing the precision of depth measurements.
(FR) La présente invention concerne un dispositif de focalisation destiné à des microscopes et de préférence à des stéréomicroscopes, comprenant un entraînement permettant le mouvement de focalisation dans la direction de l'axe de coordonnée Z, ainsi que des éléments servant à régler la focalisation sur différentes positions (z1, z2 zn) qui se trouvent sur l'axe de coordonnée Z à l'intérieur d'un objet d'observation. Un système de mesure de course sert à déterminer la course de réglage $g(D)z lorsque la focalisation est modifiée d'une première position choisie z1 à une deuxième position choisie z2, et un dispositif d'indication couplé au système de mesure de course, sert à représenter les positions choisies (z1, z2) et/ou à représenter une échelle de mesure pour la course de réglage $g(D)z. L'appréciation objective ainsi rendue possible de la netteté permet selon l'invention d'augmenter la précision dans le cadre de la mesure de profondeur.
Latest bibliographic data on file with the International Bureau