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1. (WO2002031519) AUTOMATED MONITORING SYSTEM, VIRTUAL OVEN AND METHOD FOR STRESS TESTING LOGICALLY GROUPED MODULES
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2002/031519    International Application No.:    PCT/US2001/031762
Publication Date: 18.04.2002 International Filing Date: 11.10.2001
Chapter 2 Demand Filed:    13.05.2002    
IPC:
G01R 31/28 (2006.01), G05B 23/02 (2006.01)
Applicants: CIENA CORPORATION [US/US]; Legal Department, 1201 Winterson Road, Linthicum, MD 21090 (US)
Inventors: FLOYD, John; (US).
DAR, Iqbal; (US).
OBRADOVIC, Mila; (US).
HUMBERSON, Jerome; (US)
Agent: MICHAEL R. CAMMARATA; Ciena Corporation, Lega Department, 1201 Winterson Road, Linthicum, MD 21090 (US)
Priority Data:
60/240,596 13.10.2000 US
Title (EN) AUTOMATED MONITORING SYSTEM, VIRTUAL OVEN AND METHOD FOR STRESS TESTING LOGICALLY GROUPED MODULES
(FR) SYSTEME DE CONTROLE AUTOMATISE, FOUR VIRTUEL, ET PROCEDE D'ESSAI SOUS CONTRAINTE DE MODULES GROUPES DE FAÇON LOGIQUE
Abstract: front page image
(EN)A virtual oven includes a logical grouping of modules, a controller, test instruments and a database which are all connected via a network. The logical groupings of modules of several virtual ovens may be physically accommodated within a single environmental stress screening room. Switching between modules in a logical group permits a single test piece of test equipment to be time-shared among the modules in the logical group. The method of burn-in testing a logical group of modules rotates a test sequence, including passive and active test cycles, between the modules. A test signal is split and supplied to multiple modules. Passive testing may be perfomred by monitoring parameters of the module while the test signal is supplied to the module. Active testing may be a functional test of the module in which the test signal is supplied to, processed by, and output from the module. Such test signals output from the modules are switched to the test equipment on a time-share basis. In this way, the number or expensive test equipment set-ups may reduced.
(FR)L'invention concerne un four virtuel pouvant accomplir efficacement des essais sous contrainte d'un grand nombre de modules. Le four virtuel comprend un groupement logique de modules, un contrôleur, des instruments d'essai, et une base de données, tous connectés par l'intermédiaire d'un réseau. Les groupements logiques de modules de plusieurs fours virtuels peuvent être logés physiquement dans une seule chambre d'évaluation de contrainte d'environnement. Le passage d'un module à un autre dans un groupe logique permet aux modules d'un groupe logique d'exploiter en temps partagé une seule pièce d'essai d'un matériel d'essai. Le processus d'essai de fiabilisation d'un groupe logique de modules exécute entre les modules une séquence d'essais comprenant des cycles d'essai passifs et actifs. Un signal d'essai est divisé et transmis à plusieurs modules. Un essai passif peut être accompli moyennant le contrôle de paramètres du module pendant la transmission du signal d'essai à ce dernier. Un essai actif peut être un essai fonctionnel du module dans lequel le signal d'essai est transmis, traité et sorti du module. De tels signaux d'essai sortis des modules sont commutés vers le matériel d'essai en temps partagé. On peut ainsi diminuer le nombre de réglages onéreux du matériel d'essai. Le contrôleur pour chaque four virtuel affiche également des indications permettant à un usager de suivre l'évolution des essais de tous les modules à l'intérieur du four virtuel. Le contrôleur construit aussi une base de données des essais actifs et passifs pour chaque module. Une interface graphique utilisateur peut être utilisée pour interagir avec le four virtuel, contrôler le processus d'essai, et visualiser la base de données.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VN, YU, ZA, ZW.
European Patent Office (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, TR).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)