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1. (WO2002029428) DOCKING SYSTEM FOR CONNECTING A TESTER TO A PROBE STATION USING AN A-TYPE DOCKING CONFIGURATION
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2002/029428    International Application No.:    PCT/US2001/028633
Publication Date: 11.04.2002 International Filing Date: 13.09.2001
Chapter 2 Demand Filed:    29.04.2002    
IPC:
G01R 31/28 (2006.01)
Applicants: ORSILLO, James, E. [US/US]; (US)
Inventors: ORSILLO, James, E.; (US)
Agent: SCOTTI, Robert, F.; Klarquist, Sparkman LLP Suite 1600, One World Trade Center 121 S.W. Salmon Street Portland, OR 97204 (US)
Priority Data:
60/237,217 02.10.2000 US
09/949,113 07.09.2001 US
Title (EN) DOCKING SYSTEM FOR CONNECTING A TESTER TO A PROBE STATION USING AN A-TYPE DOCKING CONFIGURATION
(FR) SYSTEME D'ACCUEIL DESTINE A CONNECTER UN DISPOSITIF DE TEST A UNE STATION DE MESURE AU MOYEN D'UNE CONFIGURATION D'ACCUEIL DE TYPE A
Abstract: front page image
(EN)A docking system that allows a Teradyne J750-type tester to be mounted to both a probe station and a handle using uniform docking hardware. Any desired probe stations may be converter into an A-type configuration so that the J750 may be used on both probe stations and handlers. In one aspect, a head stage (50) is designed to mount uniform docking hardware to convert a probe station to an A-type configuration. In another aspect, the uniform docking hardware includes two separate mounting assemblies (56, 58). One of the mounting assemblies has two kinematic docking units placed thereon. The other of the mounting assemblies has a single kinematic docking unit (62). The separate mounting assemblies allows ease of assembly to the probe station and is less costly to manufacture.
(FR)L'invention concerne un système d'accueil permettant à un dispositif de test Teradyne de type J750 d'être monté à la fois sur une station de mesure et sur un manipulateur au moyen de matériel d'accueil uniforme. N'importe quelles stations de mesure souhaitée peut être convertie en une configuration de type A de manière que le J750 soit utilisé à la fois sur les stations de mesure et les manipulateurs. Dans l'un des modes de réalisation de l'invention, un étage de tête est conçu de manière à monter le matériel d'accueil uniforme en vue de transformer une station de mesure en une station à configuration de type A. Dans un autre mode de réalisation, le matériel d'accueil uniforme comprend deux assemblages de montage séparés. Un des assemblages de montage comprend deux unités d'accueil cinématiques. L'autre assemblage de montage possède une unité d'accueil cinématique unique. Ces assemblages de montage séparés facilitent l'assemblage avec la station de mesure et sont moins cher à la fabrication.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, PH, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VN, YU, ZA, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)