WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO2002029422) A SCAN TEST SYSTEM AND METHOD FOR MANIPULATING LOGIC VALUES THAT REMAIN CONSTANT DURING NORMAL OPERATIONS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2002/029422    International Application No.:    PCT/EP2001/011403
Publication Date: 11.04.2002 International Filing Date: 02.10.2001
IPC:
G01R 31/3185 (2006.01)
Applicants: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V. [NL/NL]; Groenewoudseweg 1 NL-5621 BA Eindhoven (NL)
Inventors: SETHIA, Rajeev; (NL)
Agent: DUIJVESTIJN, Adrianus, J.; Internationaal Octrooibureau B.V. Prof. Holstlaan 6 NL-5656 AA Eindhoven (NL)
Priority Data:
09/677,939 02.10.2000 US
Title (EN) A SCAN TEST SYSTEM AND METHOD FOR MANIPULATING LOGIC VALUES THAT REMAIN CONSTANT DURING NORMAL OPERATIONS
(FR) SYSTEME ET PROCEDE D'ESSAI DE BALAYAGE DESTINES A LA MANIPULATION DE VALEURS LOGIQUES RESTANT CONSTANTES PENDANT DES OPERATIONS NORMALES
Abstract: front page image
(EN)The present invention is a system and method that holds a logic value constant during normal operations and facilitates manipulation of the logic value during scan test operations. In one embodiment the present invention is a constant logic value manipulation scan test chain that includes a combinational circuit, a constant logic value scan test manipulation circuit, and a scan test element. The a combinational circuit performs functional operations during normal mode. The constant logic value scan test manipulation circuit provides a logic value output that remains constant during normal operations and changes in accordance with scan test input information during scan test operations. The scan test element communicates test vectors to functional components and interacts with functional logic utilized to perform normal operations. In one exemplary implementation of the present invention the combinational circuit is a logic gate and the logic value output by the constant logic value scan test manipulation circuit is coupled to an input of the logic gate. The logic value input to the logic gate remains constant during normal operations and is manipulated in accordance with scan test input information during scan test operations.
(FR)L'invention concerne un système et un procédé permettant de maintenir une valeur logique constante pendant des opérations normales et facilitant la manipulation de la valeur logique dans des opérations d'essai de balayage. Dans un mode de réalisation, l'invention concerne une chaîne d'essai de balayage de manipulation de valeur logique constante comprenant un circuit combinatoire, un circuit de manipulation d'essai de balayage de valeur logique constante et un élément d'essai de balayage. Le circuit combinatoire effectue des opérations fonctionnelles pendant un mode normal. Le circuit de manipulation d'essai de balayage de valeur logique constante fournit une sortie de valeur logique restant constante pendant des opérations normales et change en fonction des informations d'entrée d'essai de balayage pendant des opérations d'essai de balayage. L'élément d'essai de balayage communique des vecteurs d'essai à des composants fonctionnels et interagit avec une logique fonctionnelle mise en oeuvre en vue d'effectuer des opérations normales. Dans une mise en oeuvre exemplaire de l'invention, le circuit combinatoire est une porte logique et la sortie de valeur logique obtenue par l'intermédiaire du circuit de manipulation d'essai de balayage de valeur logique est couplée à une entrée de la porte logique. L'entrée de valeur logique dans la porte logique reste constante pendant des opérations normales et est manipulée conformément aux informations d'entrée d'essai de balayage pendant des opérations d'essai de balayage.
Designated States: CN, JP, KR.
European Patent Office (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, TR).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)