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1. (WO2002027361) OPTICAL METHOD FOR LIGHT DIFFRACTION, CORRESPONDING OPTICAL SYSTEM AND DEVICE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2002/027361    International Application No.:    PCT/FR2001/002985
Publication Date: 04.04.2002 International Filing Date: 26.09.2001
Chapter 2 Demand Filed:    18.04.2002    
IPC:
G02B 5/18 (2006.01)
Applicants: JOBIN YVON S.A. [FR/FR]; 16-18 rue du Canal F-91160 LONGJUMEAU (FR) (For All Designated States Except US).
LEPERE, Didier [FR/FR]; (FR) (For US Only)
Inventors: LEPERE, Didier; (FR)
Agent: MICHELET, Alain; Cabinet HARLE et PHELIP 7 rue de Madrid F-75008 PARIS (FR)
Priority Data:
00/12237 26.09.2000 FR
Title (EN) OPTICAL METHOD FOR LIGHT DIFFRACTION, CORRESPONDING OPTICAL SYSTEM AND DEVICE
(FR) PROCEDE OPTIQUE DE DIFFRACTION DE LA LUMIERE, SYSTEME OPTIQUE ET DISPOSITIF CORRESPONDANTS
Abstract: front page image
(EN)The invention concerns an optical method for light diffraction covering a vast wavelength domain, and a corresponding optical system and optical measuring device. The optical method consists in: sending at least one incident light beam (21) on an optical system (1) surface, at an angle of incidence ($g(a)) relative to the normal (20) to the surface, the optical system comprising a Bragg reflector (2) and a grating (3) etched on the Bragg reflector (2) at the surface; in recuperating at least a signal reflected (22) by the optical system at an angle of diffraction ($g(b)) relative to the normal after diffraction. The wavelengths and the angle of incidence of at least one of the incident beams are such that the incident beam is diffracted by the Bragg reflector and/or by the grating. The invention is applicable to the primary calibration for measuring wavelengths and for dispersion in a monochromator.
(FR)L'invention concerne un procédé optique de diffraction de la lumière couvrant un vaste domaine de longueurs d'onde, un système optique et un dispositif de mesure optique correspondants.Selon le procédé optique, on envoie au moins un faisceau incident (21) de lumière sur une surface d'un système optique (1), selon un angle d'incidence ($g(a)) par rapport à la normale (20) à la surface, le système optique comprenant un réflecteur de Bragg (2) et un réseau (3) gravé sur le réflecteur de Bragg (2) à la surface. On récupère au moins un faisceau renvoyé (22) par le système optique selon un angle de diffraction (b) par rapport à la normale après diffraction. Les longueurs d'onde et l'angle d'incidence d'au moins un des faisceaux incidents sont tels que ce faisceau incident est diffracté par le réflecteur de Bragg et/ou par le réseau. Applications à l'étalonnage primaire pour la mesure de longueurs d'onde et à la dispersion dans un monochromateur.
Designated States: US.
European Patent Office (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, TR).
Publication Language: French (FR)
Filing Language: French (FR)