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1. (WO2002027301) DEVICE USED FOR THE CHEMICAL ANALYSIS OF MATERIAL SAMPLES AND CORRESPONDING METALLURGICAL VESSEL
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2002/027301    International Application No.:    PCT/AT2001/000306
Publication Date: 04.04.2002 International Filing Date: 27.09.2001
Chapter 2 Demand Filed:    24.04.2002    
IPC:
G01N 21/63 (2006.01), G01N 21/71 (2006.01)
Applicants: VOEST-ALPINE INDUSTRIEANLAGENBAU GMBH & CO [AT/AT]; Turmstrasse 44, A-4020 Linz (AT) (For All Designated States Except US).
RAMASEDER, Norbert [AT/AT]; (AT) (For US Only).
HEITZ, Johannes [DE/AT]; (AT) (For US Only).
GRUBER, Johann [AT/AT]; (AT) (For US Only).
BÄUERLE, Dieter [AT/AT]; (AT) (For US Only)
Inventors: RAMASEDER, Norbert; (AT).
HEITZ, Johannes; (AT).
GRUBER, Johann; (AT).
BÄUERLE, Dieter; (AT)
Agent: KOPECKY, Helmut; Wipplingerstrasse 32/22, A-1010 Wien (AT)
Priority Data:
A 1647/2000 28.09.2000 AT
Title (DE) VORRICHTUNG ZUR CHEMISCHEN ANALYSE VON MATERIALPROBEN SOWIE METALLURGISCHES GEFÄSS HIERFÜR
(EN) DEVICE USED FOR THE CHEMICAL ANALYSIS OF MATERIAL SAMPLES AND CORRESPONDING METALLURGICAL VESSEL
(FR) DISPOSITIF D'ANALYSE CHIMIQUE D'ECHANTILLONS DE MATIERE ET RECIPIENT METALLURGIQUE UTILISE A CETTE FIN
Abstract: front page image
(DE)Eine Vorrichtung zur chemischen Analyse von festen oder geschmolzenen Materialproben (8), basierend auf laserinduzierter Emissionsspektroskopie, ist mit einer einen Laserstrahl (11) erzeugenden Laserquelle (10), einer den Laserstrahl umlenkenden Umlenkeinrichtung, einer den Laserstrahl (11) forkussierenden Fokussiereinrichtung sowie einer Rückstrahlen (26) eines vom Laserstrahl (11) auf der Materialprobe (8) gezündeten Plasmas (25) zu einer Auswerteeinrichtung (28), wie einem Spektrometer, leitenden Einrichtung (14) versehen. Um die Laserquelle (10) und die Auswerteeinrichtung (28) von der Materialprobe (8) weit entfernt und ohne Beeinflussung durch die Materialprobe (8) anordnen zu können, ist zwischen der Laserquelle (10) und der Materialprobe (8) zur Leitung des Laserstrahles (11) ein mit mindestens einem beweglichen Gelenk (12) ausgestatteter und einen Hohlraum für den Laserstrahl (11) aufweisender Arm (14) vorgesehen, an dessen Gelenkstelle (12) die als Spiegel oder Prisma ausgebildete Umlenkeinrichtung vorgesehen ist, wobei die Laserquelle (10) sowie die Auswerteeinheit (28) bewegungsunabhängig von der Materialprobe (8) angeordnet sind. (Fig.1)
(EN)The invention relates to a device for the chemical analysis of solid or molten material samples (8), based on laser-induced emission spectrometry. The device comprises a laser source (10) generating a laser beam (11), a deflection device deflecting the laser beam, a focusing device focusing the laser beam (11), and a device (14) that guides the reflections (26) of a plasma (25) ignited by the laser beam (11) on the material sample (8) to an evaluation device (28), such as a spectrometer. In order for the laser source (10) and the evaluation device (28) to be disposed far away from the material sample (8) and uninfluenced by the material sample (8), at least one arm (14) is provided between the laser source (10) and the material sample (8). Said arm is provided with at least one movable joint to guide the laser beam (11) and with a cavity for the laser beam (11) while the deflection device in the form of a mirror or prism is disposed at the pivot joint (12) of said arm. The laser source (10) and the evaluation unit (28) are disposed so as to be independent of any movement of the material sample (8).
(FR)La présente invention concerne un dispositif d'analyse chimique d'échantillons de matière solides ou fondus (8), se basant sur la spectroscopie d'émission induite par laser. Ce dispositif comprend une source laser (10), qui produit un rayonnement laser (11), un dispositif de déviation, qui dévie le rayonnement laser, un dispositif de focalisation, qui focalise le rayonnement laser (11), ainsi qu'un dispositif (14), qui dirige des rayons de réflexion (26) d'un plasma (25) activé par le rayonnement laser (11) sur l'échantillon de matière (8) en direction d'un dispositif d'évaluation (28), tel qu'un spectromètre. Afin de pouvoir installer la source laser (10) et le dispositif d'évaluation (28) loin de l'échantillon de matière (8), sans que ce dernier ne les influence, un bras (14) équipé d'au moins une articulation mobile (12) et présentant une cavité destinée au rayonnement laser (11) est pourvu entre la source laser (10) et l'échantillon de matière (8) et permet de diriger le rayonnement laser (11). Le dispositif de déviation, conçu sous forme de miroir ou de prisme, est pourvu à l'emplacement de l'articulation (12) du bras. La source laser (10) et l'unité d'évaluation (28) sont placées de manière indépendante du mouvement de l'échantillon de matière (8).
Designated States: AU, BR, CA, CN, CZ, IN, JP, KR, RU, US, ZA.
European Patent Office (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, TR).
Publication Language: German (DE)
Filing Language: German (DE)