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1. (WO2002008776) AUTOMATIC TEST EQUIPMENT WITH NARROW OUTPUT PULSES
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2002/008776    International Application No.:    PCT/US2001/022472
Publication Date: 31.01.2002 International Filing Date: 17.07.2001
Chapter 2 Demand Filed:    21.02.2002    
IPC:
G01R 31/319 (2006.01)
Applicants: TERADYNE, INC. [US/US]; 321 Harrison Avenue Boston, MA 02118 (US)
Inventors: SARTSCHEV, Ronald, A.; (US)
Agent: WALSH, Edmund, J.; Teradyne, Inc. 321 Harrison Avenue Boston, MA 02118 (US)
Priority Data:
09/625,827 26.07.2000 US
Title (EN) AUTOMATIC TEST EQUIPMENT WITH NARROW OUTPUT PULSES
(FR) EQUIPEMENT DE TEST AUTOMATIQUE A IMPULSIONS DE SORTIE ETROITES
Abstract: front page image
(EN)Automatic test equipment suitable for testing high speed semiconductor devices. The test equipment includes a formatter circuit with a flip flop that produces an output in the desired format even if the edge signals that control the setting and resetting of the flip flop overlap. The flip flop allows the test system to generate outputs with narrow pulses, and can generate output pulses that are narrower than the controlling edge signals.
(FR)L'invention concerne un équipement de test permettant de tester des dispositifs de semiconducteurs à grande vitesse. Cet équipement de test comprend un circuit de mise en forme à bascule, qui produit une sortie dans un format désiré même si les signaux de bord qui commandent le réglage et la remise à l'état initial de la bascule se chevauchent. La bascule permet au système de test de produire des sorties à impulsions étroites, et peut produire des impulsions de sorties plus étroites que les signaux de bord de commande.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VN, YU, ZA, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)