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1. (WO2002008692) METHOD AND DEVICE FOR OPTICALLY MEASURING DISTANCE OR SPEED
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2002/008692    International Application No.:    PCT/EP2001/007791
Publication Date: 31.01.2002 International Filing Date: 06.07.2001
Chapter 2 Demand Filed:    21.02.2002    
IPC:
G01C 1/02 (2006.01), G01C 15/00 (2006.01), G01P 3/68 (2006.01)
Applicants: LEICA GEOSYSTEMS AG [CH/CH]; Heinrich-Wild-Strasse CH-9435 Heerbrugg (CH) (For All Designated States Except US).
EHBETS, Hartmut [DE/CH]; (CH) (For US Only)
Inventors: EHBETS, Hartmut; (CH)
Agent: BÜCHEL KAMINSKI & PARTNER; Letzanaweg 25-27 FL-9495 Triesen (LI)
Priority Data:
00115838.5 24.07.2000 EP
Title (DE) VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR OPTISCHEN DISTANZ- ODER GESCHWINDIGKEITSMESSUNG
(EN) METHOD AND DEVICE FOR OPTICALLY MEASURING DISTANCE OR SPEED
(FR) PROCEDE ET DISPOSITIF DE MESURE OPTIQUE DE DISTANCE OU DE VITESSE
Abstract: front page image
(DE)Bei einem Verfahren zum Messen einer mit einer Entfernung zusammenhängenden Grösse, wie Distanz, Geschwindigkeit oder Beschleunigung, bzw. zum Nivellieren, wird eine Sendeanordnung (1-6) mit wenigstens einem Mikrolaser (3) als Sender eingesetzt, und die von einer Objektfläche reflektierte Strahlung empfangen und für die Messung ausgewertet. Dabei wird Strahlung mindestens zweier unterschiedlicher Wellenlängen im wesentlichen gleichzeitig ausgesandt und nach Empfang ausgewertet. Vorzugsweise wird dieses Verfahren mit Hilfe einer Vorrichtung durchgeführt, bei der der Mikrolaser (3) als passiv pulsierender Mikrolaser (3) mindestens zwei unterschiedliche Wellenlängen abgibt. Einem Empfänger (15, 40) für den von einem Objekt reflektierten Laserstrahl ist die Auswerteeinrichtung (41) nachgeschaltet.
(EN)The invention relates to a method for measuring a distance-related variable such as distance, speed or acceleration, or for leveling. An emitting device (1-6) comprising at least one microlaser (3) is used as an emitter, and the beam reflected off an object surface is received and evaluated for measurement. A beam is emitted and evaluated after being received, in a substantially simultaneous manner in at least two different wavelengths. Preferably, said method is carried out by means of a device whereby the microlaser (3) in the form of a passively pulsating microlaser (3) emits at least two different wavelengths. A receiver (15, 40) for the laser beam reflected off an object is arranged downstream from the evaluating device (41).
(FR)La présente invention concerne un procédé servant à mesurer une grandeur dépendant de l'éloignement, telle que la distance, la vitesse ou l'accélération, ou servant à l'égalisation. Selon ledit procédé, un dispositif d'émission (1-6) est utilisé comme émetteur avec au moins un microlaser (3), et le rayonnement réfléchi par une surface d'objet est reçu et analysé afin de permettre la mesure. Selon l'invention, le rayonnement est émis et analysé après réception, sensiblement simultanément dans au moins deux longueurs d'onde différentes. De préférence, ce procédé est mis en oeuvre grâce à un dispositif dans lequel un microlaser (3) se présentant sous la forme d'un microlaser à impulsion passive (3) émet dans au moins deux longueurs d'ondes différentes. Un récepteur (15, 40) destiné au rayonnement laser réfléchi par l'objet est connecté en aval du dispositif d'évaluation (41).
Designated States: JP, US.
European Patent Office (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, TR).
Publication Language: German (DE)
Filing Language: German (DE)