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1. (WO2002001504) IMAGE PROCESSING SYSTEM FOR USE WITH INSPECTION SYSTEMS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2002/001504    International Application No.:    PCT/US2001/020238
Publication Date: 03.01.2002 International Filing Date: 25.06.2001
Chapter 2 Demand Filed:    28.01.2002    
IPC:
G01B 11/00 (2006.01), G01B 11/26 (2006.01), G01N 21/956 (2006.01), G06T 1/00 (2006.01), G06T 5/00 (2006.01), G06T 7/00 (2017.01), G06T 7/60 (2017.01)
Applicants: TERADYNE, INC. [US/US]; Legal Department 321 Harrison Avenue Boston, MA 02118 (US)
Inventors: LIPSON, Pamela, R.; (US).
RATAN, Aparna; (US).
SRINIVAS, Chukka; (US).
SINHA, Pawan; (US)
Agent: WALSH, Edmund, J.; Teradyne, Inc. 321 Harrison Avenue Boston, MA 02118 (US)
Priority Data:
09/605,289 28.06.2000 US
Title (EN) IMAGE PROCESSING SYSTEM FOR USE WITH INSPECTION SYSTEMS
(FR) SYSTEME DE TRAITEMENT D'IMAGES DESTINE A ETRE UTILISE AVEC DES SYSTEMES D'INSPECTION
Abstract: front page image
(EN)An inspection system includes a plurality of models are applied in a way that enhances the effectiveness of each type of model. In one embodiment, a printed circuit board inspection system includes an image model, a structural model and a geometric model to inspect objects. The image model is first applied to an object being inspected to identify objects which look alike. After the image model is applied, a structural model is applied to determine whether the object exists in the image that has the same structure and is used to decide if the image model has truly found a part in the image. Lastly, a geometric model is applied and uses the approximate positional data provided by the previous two models to determine precisely the location of the object being inspected. Also described are techniques for learning and updating the plurality of models.
(FR)L'invention concerne un système d'inspection comprenant une pluralité de modèles, qui sont appliqués de façon à améliorer l'efficacité de chaque type de modèle. Dans un mode de réalisation, un système d'inspection de plaquettes de circuits imprimés comporte un modèle d'image, un modèle de structure et un modèle géométrique destinés à l'inspection d'objets. On applique tout d'abord le modèle d'image sur un objet en cours d'inspection pour identifier les objets qui se ressemblent. Après application du modèle d'image, on applique un modèle de structure pour déterminer s'il se trouve dans l'image un objet de même structure permettant de déterminer si le modèle d'image a véritablement permis de trouver une pièce dans l'image. Enfin, on applique un modèle géométrique, qui utilise les données de position approximatives fournies par les deux modèles précédents pour déterminer précisément l'emplacement de l'objet inspecté. L'invention concerne également des techniques d'apprentissage et de mise à jour de ces modèles.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VN, YU, ZA, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)