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1. (WO2002001191) SYSTEM AND METHOD FOR PERFORMING A LASER-INDUCED BREAKDOWN SPECTROSCOPY ANALYSIS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2002/001191    International Application No.:    PCT/CA2001/000958
Publication Date: 03.01.2002 International Filing Date: 28.06.2001
Chapter 2 Demand Filed:    07.12.2001    
IPC:
G01N 21/71 (2006.01)
Applicants: PHARMA LASER INC. [CA/CA]; 2730, Chicoutimi, Laval, Québec H7E 1B1 (CA)
Inventors: BECHARD, Simon; (CA).
SING, Robert; (CA)
Agent: KOSIE, Ronald, S.; Brouillette Kosie, Suite 2500, 1100, René-Lévesque Blvd. West, Montreal, Québec H3B 5C9 (CA)
Priority Data:
09/607,093 29.06.2000 US
Title (EN) SYSTEM AND METHOD FOR PERFORMING A LASER-INDUCED BREAKDOWN SPECTROSCOPY ANALYSIS
(FR) SYSTEME ET METHODE POUR EXECUTER UNE ANALYSE PAR SPECTROSCOPIE PAR CLAQUAGE INDUIT PAR ECLAIR LASER
Abstract: front page image
(EN)The system (10) is used for performing a laser-induced breakdown spectroscopy (LIBS) analysis of at least two samples. The system (10) at least two spaced-apart sample receptacles (54) provided on the support member (52). Each location to be analyzed on the samples (12) is successively made coincident with a target point (T) at which a high power laser beam pulse is focused. The system (10) comprises a positioning mechanism (60) for selectively pivoting and locking in position the support member (52) around its medial axis (M) and for offsetting the support member (52) in at least one direction and locking it in position. A spectral analysis of a radiation emitted by a plasma produced by the laser beam pulse on the sample (12) is performed and the data are analyzed by a computer (40). The computer (40) also controls the operation of the system (10).
(FR)Le système (10) est utilisé pour exécuter une analyse par spectroscopie par claquage induit par éclair laser (LIBS) d'au moins deux échantillons. Une méthode correspondante est également décrite. Le système (10) comprend un élément de support (52) ainsi qu'au moins deux récipients (54) à échantillons espacés disposés sur l'élément de support (52). Les récipients (54) à échantillons contiennent un échantillon respectif (12) et positionnent les échantillons (12) à la même distance à partir d'un axe médian (M) de l'élément de support (52) et dans le même plan, lequel est perpendiculaire à l'axe médian (M). Chaque emplacement à analyser sur les échantillons (12) est rendu successivement coïncidant avec un point cible (T) sur lequel est focalisée une impulsion de faisceau laser de haute puissance. Le système (10) comprend un mécanisme de positionnement (60) destiné à faire pivoter et verrouiller en position sélectivement l'élément de support (52) autour de son axe médian (M) et à décaler l'élément de support (52) dans au moins un sens et à le verrouiller en position. Une analyse spectrale du rayonnement émis par un plasma produit par l'impulsion du faisceau laser sur l'échantillon (12) est effectuée et les données sont analysées par un ordinateur (40). L'ordinateur (40) gère également le fonctionnement du système (10) lequel est ensuite exécuté de manière automatique. La présente invention permet d'exécuter une analyse LIBS à l'aide du même schéma d'échantillonnage d'un échantillon (12) à l'autre. Elle empêche également que le flux d'air autour de l'emplacement analysé ne soit perturbé entre les mesures.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VN, YU, ZA, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)